Semiconductor Terms in English, Japanese and Chinese
1231 semiconductor terms in English, Japanese and Traditional Chinese as used in Taiwan, grouped by field. Useful when reading Japanese or Taiwanese documents or working with colleagues there. Click a term to open its explanation in that language.
Fundamentals
Semiconductor physics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Acceptor | アクセプタあくせぷた | 受體 |
| Auger recombination | オージェ再結合おーじぇさいけつごう | 歐傑復合 |
| Band gap | バンドギャップばんどぎゃっぷ | 能隙 |
| Degenerate semiconductor | 縮退半導体しゅくたいはんどうたい | 簡併半導體 |
| Diffusion length | 拡散長かくさんちょう | 擴散長度 |
| Donor | ドナーどなー | 施體 |
| Effective mass | 有効質量ゆうこうしつりょう | 有效質量 |
| Einstein relation | アインシュタインの関係式あいんしゅたいんのかんけいしき | 愛因斯坦關係式 |
| Electron affinity | 電子親和力でんしにわりょく | 電子親和力 |
| Fermi level | フェルミ準位ふぇるみじゅんい | 費米能階 |
| Indirect band gap | 間接遷移型かんせつせんいがた | 間接能隙 |
| Intrinsic carrier density | 真性キャリア密度しんせいきゃりあみつど | 本質載子濃度 |
| Mobility | 移動度いどうど | 遷移率 |
| Quasi-Fermi level | 擬フェルミ準位ぎふぇるみじゅんい | 準費米能階 |
| SRH recombination (Shockley-Read-Hall recombination) | SRH再結合(ショックレー・リード・ホール再結合)えすあーるえいちさいけつごう | SRH 復合(蕭克萊-里德-霍爾復合) |
| Work function | 仕事関数しごとかんすう | 功函數 |
PN junctions and diodes
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Avalanche breakdown | なだれ降伏なだれこうふく | 累增崩潰 |
| Built-in potential | 内蔵電位ないぞうでんい | 內建電位 |
| Conductivity modulation | 伝導度変調でんどうどへんちょう | 導電度調變 |
| Depletion layer | 空乏層くうぼうそう | 空乏層 |
| Diffusion capacitance | 拡散容量かくさんようりょう | 擴散電容 |
| Forward bias | 順方向バイアスじゅんほうこうばいあす | 順向偏壓 |
| Ideality factor | 理想係数りそうけいすう | 理想因子 |
| Junction capacitance (depletion capacitance) | 接合容量(空乏層容量)せつごうようりょう | 接面電容(空乏層電容) |
| Ohmic contact | オーミック接触おーみっくせっしょく | 歐姆接觸 |
| Reverse recovery time | 逆回復時間ぎゃくかいふくじかん | 逆向恢復時間 |
| Schottky barrier diode | ショットキーバリアダイオードしょっときーばりあだいおーど | 蕭特基位障二極體 |
| Tunnel diode (Esaki diode) | トンネルダイオード(エサキダイオード)とんねるだいおーど | 穿隧二極體(江崎二極體) |
| Zener diode | ツェナーダイオードつぇなーだいおーど | 稽納二極體 |
Bipolar transistors
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Common-emitter circuit | エミッタ接地回路えみったせっちかいろ | 共射極電路 |
| Crossover distortion | クロスオーバーひずみくろすおーばーひずみ | 交越失真 |
| Current gain (hFE) | 電流増幅率(hFE)でんりゅうぞうふくりつ | 電流增益(hFE) |
| Current mirror | カレントミラー回路かれんとみらーかいろ | 電流鏡電路 |
| Cutoff region | 遮断領域しゃだんりょういき | 截止區 |
| Darlington connection | ダーリントン接続だーりんとんせつぞく | 達靈頓連接 |
| Early effect | アーリー効果あーりーこうか | 厄利效應 |
| Emitter follower | エミッタフォロワえみったふぉろわ | 射極隨耦器 |
| Forward-active region | 能動領域のうどうりょういき | 主動區 |
| HBT (heterojunction bipolar transistor) | HBT(ヘテロ接合バイポーラトランジスタ)えいちびーてぃー | HBT(異質接面雙載子電晶體) |
| Miller effect | ミラー効果みらーこうか | 米勒效應 |
| Saturation region | 飽和領域ほうわりょういき | 飽和區 |
| Transition frequency | トランジション周波数とらんじしょんしゅうはすう | 轉換頻率 |
MOSFET
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Body effect | 基板バイアス効果きばんばいあすこうか | 基板偏壓效應 |
| Channel-length modulation | チャネル長変調ちゃねるちょうへんちょう | 通道長度調變 |
| CMOS | CMOSしーもす | CMOS |
| DIBL | DIBLでぃぶる | DIBL(汲極引發位障降低) |
| Flat-band voltage | フラットバンド電圧ふらっとばんどでんあつ | 平帶電壓 |
| GIDL (gate-induced drain leakage) | GIDL(ゲート誘起ドレインリーク)じーあいでぃーえる | GIDL(閘極引發汲極漏電) |
| Inversion layer | 反転層はんてんそう | 反轉層 |
| JFET (junction field-effect transistor) | JFET(接合型FET)じぇいふぇっと | JFET(接面場效電晶體) |
| LDD structure | LDD構造えるでぃーでぃーこうぞう | LDD 結構 |
| Punch-through | パンチスルーぱんちするー | 貫穿(Punch-through) |
| Short-channel effect | 短チャネル効果たんちゃねるこうか | 短通道效應 |
| Short-circuit current | 貫通電流かんつうでんりゅう | 貫穿電流 |
| Subthreshold swing | サブスレッショルドスイングさぶすれっしょるどすいんぐ | 次臨界擺幅 |
| Threshold voltage | しきい値電圧しきいちでんあつ | 臨界電壓 |
| Transconductance | 相互コンダクタンスそうごこんだくたんす | 轉導 |
| Transmission gate | トランスミッションゲートとらんすみっしょんげーと | 傳輸閘 |
| Velocity saturation | 速度飽和そくどほうわ | 速度飽和 |
Logic circuits
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Clock skew | クロックスキューくろっくすきゅー | 時脈偏斜 |
| Combinational circuit | 組み合わせ回路くみあわせかいろ | 組合電路 |
| De Morgan's theorem | ド・モルガンの定理どもるがんのていり | 笛摩根定理 |
| Decoder | デコーダでこーだ | 解碼器 |
| Flip-flop | フリップフロップふりっぷふろっぷ | 正反器 |
| Full adder | 全加算器ぜんかさんき | 全加器 |
| Glitch | グリッチぐりっち | 突波(Glitch) |
| Gray code | グレイコードぐれいこーど | 格雷碼 |
| Hold time | ホールド時間ほーるどじかん | 保持時間 |
| Karnaugh map | カルノー図かるのーず | 卡諾圖 |
| Metastability | メタステーブルめたすてーぶる | 亞穩態 |
| Multiplexer | マルチプレクサまるちぷれくさ | 多工器 |
| Sequential circuit | 順序回路じゅんじょかいろ | 循序電路 |
| Setup time | セットアップ時間せっとあっぷじかん | 設定時間 |
| Shift register | シフトレジスタしふとれじすた | 移位暫存器 |
| Tri-state buffer | トライステートバッファとらいすてーとばっふぁ | 三態緩衝器 |
| Truth table | 真理値表しんりちひょう | 真值表 |
| Two's complement | 2の補数にのほすう | 二補數 |
Analog and electronic circuits
A/D and D/A conversion
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Aliasing | エイリアシングえいりあしんぐ | 混疊 |
| Delta-sigma ADC | ΔΣ型ADCでるたしぐまがたえーでぃーしー | ΔΣ式ADC |
| DNL (differential nonlinearity) | DNL(微分非直線性)でぃーえぬえる | DNL(微分非線性) |
| ENOB (effective number of bits) | ENOB(有効ビット数)いーのぶ | ENOB(有效位元數) |
| Flash ADC | フラッシュ型ADCふらっしゅがたえーでぃーしー | 快閃式ADC |
| INL (integral nonlinearity) | INL(積分非直線性)あいえぬえる | INL(積分非線性) |
| Jitter | ジッタじった | 抖動(Jitter) |
| Missing code | ミッシングコードみっしんぐこーど | 失碼 |
| Noise shaping | ノイズシェーピングのいずしぇーぴんぐ | 雜訊整形 |
| Nyquist frequency | ナイキスト周波数ないきすとしゅうはすう | 奈奎斯特頻率 |
| Oversampling | オーバーサンプリングおーばーさんぷりんぐ | 過取樣 |
| Pipelined ADC | パイプライン型ADCぱいぷらいんがたえーでぃーしー | 管線式ADC |
| Quantization error | 量子化誤差りょうしかごさ | 量化誤差 |
| R-2R ladder DAC | R-2Rラダー型DACあーるつーあーるらだーがただっく | R-2R梯形DAC |
| Sample-and-hold circuit | サンプルホールド回路さんぷるほーるどかいろ | 取樣保持電路 |
| Sampling theorem | サンプリング定理さんぷりんぐていり | 取樣定理 |
| Successive-approximation ADC | 逐次比較型ADCちくじひかくがたえーでぃーしー | 逐次逼近式ADC |
Digital Signal Processing Basics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Convolution | 畳み込みたたみこみ | 摺積（卷積） |
| Decimation | デシメーションでしめーしょん | 降取樣 |
| Difference equation | 差分方程式さぶんほうていしき | 差分方程式 |
| Discrete Fourier transform | 離散フーリエ変換りさんふーりえへんかん | 離散傅立葉轉換 |
| Fast Fourier transform (FFT) | 高速フーリエ変換(FFT)こうそくふーりえへんかん | 快速傅立葉轉換（FFT） |
| FIR filter | FIRフィルタえふあいあーるふぃるた | 有限脈衝響應濾波器（FIR） |
| Frequency resolution | 周波数分解能しゅうはすうぶんかいのう | 頻率解析度 |
| Group delay | 群遅延ぐんちえん | 群延遲 |
| IIR filter | IIRフィルタあいあいあーるふぃるた | 無限脈衝響應濾波器（IIR） |
| Impulse response | インパルス応答いんぱるすおうとう | 脈衝響應 |
| Linear phase | 直線位相ちょくせんいそう | 線性相位 |
| Moving-average filter | 移動平均フィルタいどうへいきんふぃるた | 移動平均濾波器 |
| Spectral leakage | スペクトル漏れすぺくとるもれ | 頻譜洩漏 |
| Window function | 窓関数まどかんすう | 窗函數 |
| z-transform | z変換ぜっとへんかん | z轉換 |
Devices
DRAM
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| 1T1C cell | 1T1Cセルわんてぃーわんしーせる | 1T1C 單元 |
| 3D DRAM | 3D DRAMすりーでぃーでぃーらむ | 3D DRAM |
| Bank | バンクばんく | 記憶體庫(Bank) |
| Bit line | ビット線びっとせん | 位元線 |
| CAS latency | CASレイテンシきゃすれいてんし | CAS 延遲 |
| DDR SDRAM | DDR SDRAMでぃーでぃーあーるえすでぃーらむ | DDR SDRAM |
| DIMM | DIMMでぃむ | DIMM |
| DRAM (dynamic random-access memory) | DRAM(ダイナミックRAM)でぃーらむ | DRAM(動態隨機存取記憶體) |
| ECC (error-correcting code) | ECC(誤り訂正符号)いーしーしー | ECC(錯誤更正碼) |
| LPDDR | LPDDRえるぴーでぃーでぃーあーる | LPDDR |
| Memory wall | メモリウォールめもりうぉーる | 記憶體牆 |
| Precharge | プリチャージぷりちゃーじ | 預充電 |
| Redundancy repair | 冗長救済じょうちょうきゅうさい | 冗餘修復 |
| Refresh | リフレッシュりふれっしゅ | 更新(Refresh) |
| Rowhammer | ロウハンマーろうはんまー | 列鎚攻擊(Rowhammer) |
| Sense amplifier | センスアンプせんすあんぷ | 感測放大器 |
| Word line | ワード線わーどせん | 字元線 |
SRAM and flash memory
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| 3D NAND | 3D NANDすりーでぃーなんど | 3D NAND |
| 6T SRAM cell | 6T SRAMセルろくてぃーえすらむせる | 6T SRAM 單元 |
| Charge-trap cell | 電荷トラップ型セルでんかとらっぷがたせる | 電荷捕捉型單元 |
| Floating gate | フローティングゲートふろーてぃんぐげーと | 浮動閘極 |
| Fowler-Nordheim tunneling | FNトンネル電流(ファウラー・ノルドハイム)えふえぬとんねるでんりゅう | FN 穿隧電流(富勒-諾德海姆) |
| Garbage collection | ガベージコレクションがべーじこれくしょん | 垃圾回收 |
| NAND flash memory | NAND型フラッシュメモリなんどがたふらっしゅめもり | NAND 型快閃記憶體 |
| Nonvolatile memory | 不揮発性メモリふきはつせいめもり | 非揮發性記憶體 |
| NOR flash memory | NOR型フラッシュメモリのあがたふらっしゅめもり | NOR 型快閃記憶體 |
| NVMe | NVMeえぬぶいえむいー | NVMe |
| Read disturb | リードディスターブりーどでぃすたーぶ | 讀取干擾 |
| SLC (single-level cell) | SLC(シングルレベルセル)えすえるしー | SLC(單階儲存單元) |
| SSD (solid-state drive) | SSDえすえすでぃー | SSD(固態硬碟) |
| TLC (triple-level cell) | TLC(トリプルレベルセル)てぃーえるしー | TLC(三階儲存單元) |
| TRIM | TRIMとりむ | TRIM |
| Wear leveling | ウェアレベリングうぇあれべりんぐ | 損耗平均 |
| Write amplification | 書き込み増幅(ライトアンプリフィケーション)かきこみぞうふく | 寫入放大 |
Emerging memories
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| 3D XPoint | 3D XPointすりーでぃーくろすぽいんと | 3D XPoint |
| Chalcogenide | カルコゲナイドかるこげないど | 硫族化合物 |
| Cross-point memory | クロスポイント型メモリくろすぽいんとがためもり | 交叉點型記憶體 |
| Electroforming | フォーミングふぉーみんぐ | 電鑄(Forming) |
| FeFET (ferroelectric FET) | FeFET(強誘電体トランジスタ)ふぇふぇっと | FeFET(鐵電電晶體) |
| FeRAM (ferroelectric RAM) | FeRAM(強誘電体メモリ)えふいーらむ | FeRAM(鐵電記憶體) |
| In-memory computing | インメモリコンピューティングいんめもりこんぴゅーてぃんぐ | 記憶體內運算 |
| Magnetic tunnel junction (MTJ) | 磁気トンネル接合(MTJ)じきとんねるせつごう | 磁性穿隧接面(MTJ) |
| MRAM | MRAMえむらむ | MRAM |
| PCM (phase-change memory) | PCM(相変化メモリ)ぴーしーえむ | PCM(相變記憶體) |
| ReRAM (resistive RAM) | ReRAM(抵抗変化メモリ)りらむ | ReRAM(電阻式記憶體) |
| SOT-MRAM | SOT-MRAMえすおーてぃーえむらむ | SOT-MRAM |
| Storage-class memory | ストレージクラスメモリすとれーじくらすめもり | 儲存級記憶體 |
| STT-MRAM | STT-MRAMえすてぃーてぃーえむらむ | STT-MRAM |
| TMR ratio | TMR比てぃーえむあーるひ | TMR 比 |
CPUs and architecture
Power semiconductors
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Body diode | ボディダイオードぼでぃだいおーど | 本體二極體 |
| DC-DC converter | DC-DCコンバータでぃーしーでぃーしーこんばーた | DC-DC 轉換器 |
| Dead time | デッドタイムでっどたいむ | 死區時間 |
| Gate driver | ゲートドライバげーとどらいば | 閘極驅動器 |
| IGBT | IGBTあいじーびーてぃー | IGBT |
| Normally-off | ノーマリーオフのーまりーおふ | 常閉型(Normally-off) |
| On-resistance | オン抵抗おんていこう | 導通電阻 |
| Power MOSFET | パワーMOSFETぱわーもすえふいーてぃー | 功率 MOSFET |
| Short-circuit withstand time | 短絡耐量たんらくたいりょう | 短路耐受時間 |
| SiC (silicon carbide) | SiC(炭化ケイ素)たんかけいそ | SiC(碳化矽) |
| Snubber circuit | スナバ回路すなばかいろ | 緩衝電路(Snubber) |
| Soft switching | ソフトスイッチングそふとすいっちんぐ | 柔性切換 |
| Super-junction MOSFET | スーパージャンクションMOSFETすーぱーじゃんくしょんもすふぇっと | 超接面 MOSFET |
| Switching loss | スイッチング損失すいっちんぐそんしつ | 切換損耗 |
| Tail current | テール電流てーるでんりゅう | 尾電流 |
Image sensors and optical devices
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Backside illumination (BSI) | 裏面照射型(BSI)りめんしょうしゃがた | 背照式(BSI) |
| Bayer pattern | ベイヤー配列べいやーはいれつ | 拜耳陣列 |
| CCD image sensor | CCDイメージセンサしーしーでぃーいめーじせんさ | CCD 影像感測器 |
| CMOS image sensor | CMOSイメージセンサーしーもすいめーじせんさー | CMOS 影像感測器 |
| Correlated double sampling (CDS) | 相関二重サンプリング(CDS)そうかんにじゅうさんぷりんぐ | 相關雙重取樣(CDS) |
| Dark current | 暗電流あんでんりゅう | 暗電流 |
| Fixed-pattern noise | 固定パターンノイズこていぱたーんのいず | 固定圖樣雜訊 |
| Full-well capacity | 飽和電子数(フルウェル容量)ほうわでんしすう | 飽和電子數(滿井容量) |
| Global shutter | グローバルシャッターぐろーばるしゃったー | 全域快門 |
| Microlens | マイクロレンズまいくろれんず | 微透鏡 |
| Photodiode | フォトダイオードふぉとだいおーど | 光二極體 |
| Pinned photodiode | 埋め込みフォトダイオード(ピンドフォトダイオード)うめこみふぉとだいおーど | 嵌入式光二極體(釘紮光二極體) |
| Quantum efficiency | 量子効率りょうしこうりつ | 量子效率 |
| Rolling shutter | ローリングシャッターろーりんぐしゃったー | 捲簾快門 |
| Shot noise | ショットノイズしょっとのいず | 散粒雜訊 |
| SPAD (single-photon avalanche diode) | SPAD(単一光子アバランシェダイオード)すぱっど | SPAD(單光子累增二極體) |
| Stacked CMOS image sensor | 積層型CMOSイメージセンサせきそうがたしーもすいめーじせんさ | 堆疊式 CMOS 影像感測器 |
| ToF (time of flight) | ToF(Time of Flight)てぃーおーえふ | ToF(飛行時間) |
Compound semiconductors
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| 2DEG (two-dimensional electron gas) | 2次元電子ガス(2DEG)にじげんでんしがす | 二維電子氣(2DEG) |
| Alloy semiconductor | 混晶半導体こんしょうはんどうたい | 混晶半導體 |
| Diamond semiconductor | ダイヤモンド半導体だいやもんどはんどうたい | 鑽石半導體 |
| Direct band gap | 直接遷移型ちょくせつせんいがた | 直接能隙 |
| Efficiency droop | 効率ドループこうりつどるーぷ | 效率下垂 |
| Ga2O3 (gallium oxide) | Ga2O3(酸化ガリウム)さんかがりうむ | Ga2O3(氧化鎵) |
| GaAs (gallium arsenide) | GaAs(ガリウムヒ素)がりうむひそ | GaAs(砷化鎵) |
| GaN (gallium nitride) | GaN(窒化ガリウム)ちっかがりうむ | GaN(氮化鎵) |
| HEMT (high-electron-mobility transistor) | HEMT(高電子移動度トランジスタ)へむと | HEMT(高電子遷移率電晶體) |
| III-V compound semiconductor | III-V族化合物半導体さんごぞくかごうぶつはんどうたい | III-V 族化合物半導體 |
| InP (indium phosphide) | InP(リン化インジウム)りんかいんじうむ | InP(磷化銦) |
| MMIC | MMICえむえむあいしー | MMIC |
| Quantum well | 量子井戸りょうしいど | 量子井 |
| VCSEL (vertical-cavity surface-emitting laser) | VCSEL(垂直共振器面発光レーザー)びくせる | VCSEL(垂直共振腔面射型雷射) |
| Vegard's law | ベガード則べがーどそく | 維加德定律 |
| Wide-bandgap semiconductor | ワイドバンドギャップ半導体わいどばんどぎゃっぷはんどうたい | 寬能隙半導體 |
| Wurtzite structure | ウルツ鉱型構造うるつこうがたこうぞう | 纖鋅礦結構 |
Advanced transistors (FinFET and GAA)
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| 2D materials | 2次元材料にじげんざいりょう | 二維材料 |
| CFET (complementary FET) | CFET(相補型FET)しーふぇっと | CFET(互補式場效電晶體) |
| DTCO (design-technology co-optimization) | DTCO(設計・技術協調最適化)でぃーてぃーしーおー | DTCO(設計與技術協同最佳化) |
| EOT (equivalent oxide thickness) | EOT(等価酸化膜厚)いーおーてぃー | EOT(等效氧化層厚度) |
| FD-SOI (fully depleted SOI) | FD-SOI(完全空乏型SOI)えふでぃーそい | FD-SOI(全空乏型SOI) |
| FinFET | FinFETふぃんふぇっと | FinFET(鰭式場效電晶體) |
| GAA (gate-all-around) | GAA(ゲートオールアラウンド)じーえーえー | GAA(環繞式閘極) |
| Gate-last (replacement metal gate) | ゲートラスト(リプレースメントメタルゲート)げーとらすと | 後閘極製程(取代式金屬閘極) |
| High-k / metal gate | High-k/メタルゲートはいけーめたるげーと | High-k／金屬閘極 |
| Monolithic 3D integration | モノリシック3D集積ものりしっくすりーでぃーしゅうせき | 單晶3D整合 |
| Nanosheet | ナノシートなのしーと | 奈米片 |
| Random dopant fluctuation (RDF) | ランダムドーパントゆらぎ(RDF)らんだむどーぱんとゆらぎ | 隨機摻雜物波動(RDF) |
| SADP (self-aligned double patterning) | SADP(自己整合ダブルパターニング)えすえーでぃーぴー | SADP(自對準雙重圖案化) |
MEMS and sensors
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Accelerometer | 加速度センサーかそくどせんさー | 加速度感測器 |
| Anodic bonding | 陽極接合ようきょくせつごう | 陽極接合 |
| Bosch process (deep RIE) | ボッシュプロセス(Deep RIE)ぼっしゅぷろせす | 博世製程(Deep RIE) |
| Capacitive sensing | 静電容量検出せいでんようりょうけんしゅつ | 電容式感測 |
| Coriolis force | コリオリ力こりおりりょく | 科氏力 |
| Gyroscope | ジャイロスコープじゃいろすこーぷ | 陀螺儀 |
| Hall-effect sensor | ホール素子ほーるそし | 霍爾元件 |
| MEMS | MEMSめむす | MEMS(微機電系統) |
| Piezoresistive effect | ピエゾ抵抗効果ぴえぞていこうこうか | 壓阻效應 |
| Sacrificial layer etching | 犠牲層エッチングぎせいそうえっちんぐ | 犧牲層蝕刻 |
| Stiction | スティクションすてぃくしょん | 黏附(Stiction) |
Automotive Semiconductors and Functional Safety
Silicon photonics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| C-band | Cバンドしーばんど | C 波段 |
| Chromatic dispersion | 波長分散はちょうぶんさん | 色度色散 |
| CPO (co-packaged optics) | CPO(コパッケージドオプティクス)しーぴーおー | CPO(共同封裝光學) |
| Edge coupler | エッジカプラえっじかぷら | 邊緣耦合器 |
| Extinction ratio | 消光比しょうこうひ | 消光比 |
| Grating coupler | グレーティングカプラぐれーてぃんぐかぷら | 光柵耦合器 |
| Mach-Zehnder modulator | マッハツェンダー変調器まっはつぇんだーへんちょうき | 馬赫-曾德調變器 |
| O-band | Oバンドおーばんど | O 波段 |
| Photonics-electronics convergence | 光電融合こうでんゆうごう | 光電融合 |
| Plasma dispersion effect | キャリア分散効果(プラズマ分散効果)きゃりあぶんさんこうか | 載子色散效應(電漿色散效應) |
| Propagation loss | 伝搬損失でんぱんそんしつ | 傳播損耗 |
| Refractive index | 屈折率くっせつりつ | 折射率 |
| Ring resonator | リング共振器りんぐきょうしんき | 環形共振器 |
| Silicon photonics | シリコンフォトニクスしりこんふぉとにくす | 矽光子 |
| Single-mode fiber | シングルモードファイバしんぐるもーどふぁいば | 單模光纖 |
| Waveguide | 導波路どうはろ | 波導 |
| WDM (wavelength division multiplexing) | WDM(波長多重)だぶりゅーでぃーえむ | WDM(波長多工) |
Quantum Computing Hardware
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Decoherence | デコヒーレンスでこひーれんす | 退相干 |
| Dilution refrigerator | 希釈冷凍機きしゃくれいとうき | 稀釋冷凍機 |
| Ion trap | イオントラップいおんとらっぷ | 離子阱 |
| Josephson junction | ジョセフソン接合じょせふそんせつごう | 約瑟夫森接面 |
| NISQ | NISQにすく | NISQ |
| Post-quantum cryptography | 耐量子計算機暗号たいりょうしけいさんきあんごう | 後量子密碼 |
| Quantum entanglement | 量子もつれりょうしもつれ | 量子糾纏 |
| Quantum error correction | 量子誤り訂正りょうしあやまりていせい | 量子錯誤更正 |
| Quantum gate | 量子ゲートりょうしげーと | 量子邏輯閘 |
| Quantum superposition | 量子重ね合わせりょうしかさねあわせ | 量子疊加 |
| Qubit | 量子ビットりょうしびっと | 量子位元 |
| Shor's algorithm | ショアのアルゴリズムしょあのあるごりずむ | Shor 演算法 |
| Spin qubit | スピン量子ビットすぴんりょうしびっと | 自旋量子位元 |
| Surface code | 表面符号ひょうめんふごう | 表面碼 |
| Transmon | トランズモンとらんずもん | Transmon 量子位元 |
Front-end processes
Silicon wafers
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Crystal orientation | 結晶方位けっしょうほうい | 晶體方向 |
| Czochralski (CZ) method | CZ法(チョクラルスキー法)ちょくらるすきーほう | CZ法(柴可拉斯基法) |
| DZ (denuded zone) | DZ(無欠陥層)でぃーぜっと | DZ(無缺陷區) |
| FZ method (float zone) | FZ法(フローティングゾーン法)えふぜっとほう | FZ法(浮動區熔法) |
| Gettering | ゲッタリングげったりんぐ | 吸附雜質技術(Gettering) |
| Ingot | インゴットいんごっと | 晶棒 |
| MCZ method (magnetic-field-applied CZ) | MCZ法(磁場印加CZ法)えむしーぜっとほう | MCZ法(磁場施加CZ法) |
| Monitor wafer | モニターウエハもにたーうえは | 監控晶圓 |
| Necking | ネッキングねっきんぐ | 頸縮(Necking) |
| Notch | ウエハのノッチうえはののっち | 晶圓缺口(Notch) |
| Oxygen precipitates (BMD) | 酸素析出物(BMD)さんそせきしゅつぶつ | 氧析出物(BMD) |
| Segregation coefficient | 偏析係数へんせきけいすう | 偏析係數 |
| Siemens process | シーメンス法しーめんすほう | 西門子法 |
| Slip | スリップすりっぷ | 晶格滑移 |
| SOI wafer | SOIウエハえすおーあいうえは | SOI晶圓 |
| Thermal donor | サーマルドナーさーまるどなー | 熱施體 |
Epitaxial growth
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| 4H-SiC | 4H-SiCよんえっちえすあいしー | 4H-SiC |
| Autodoping | オートドーピングおーとどーぴんぐ | 自摻雜 |
| Critical thickness | 臨界膜厚りんかいまくあつ | 臨界厚度 |
| Epitaxial growth | エピタキシャル成長えぴたきしゃるせいちょう | 磊晶成長 |
| Epitaxial lateral overgrowth (ELO) | 横方向エピタキシャル成長(ELO)よこほうこうえぴたきしゃるせいちょう | 橫向磊晶成長(ELO) |
| Heteroepitaxy | ヘテロエピタキシーへてろえぴたきしー | 異質磊晶 |
| HVPE (hydride vapor phase epitaxy) | HVPE(ハイドライド気相成長)えいちぶいぴーいー | HVPE(氫化物氣相磊晶) |
| Lattice mismatch | 格子不整合こうしふせいごう | 晶格不匹配 |
| MBE (molecular beam epitaxy) | MBE(分子線エピタキシー)えむびーいー | MBE(分子束磊晶) |
| Misfit dislocation | ミスフィット転位みすふぃっとてんい | 錯配差排 |
| MOCVD (metal-organic chemical vapor deposition) | MOCVD(有機金属気相成長)えむおーしーぶいでぃー | MOCVD(有機金屬化學氣相沉積) |
| Selective epitaxial growth | 選択エピタキシャル成長せんたくえぴたきしゃるせいちょう | 選擇性磊晶成長 |
| SiGe (silicon-germanium) | SiGe(シリコンゲルマニウム)しりこんげるまにうむ | SiGe(矽鍺) |
| Stacking fault | 積層欠陥せきそうけっかん | 疊差 |
| Step-flow growth | ステップフロー成長すてっぷふろーせいちょう | 階梯流成長 |
| Strained silicon | ひずみシリコンひずみしりこん | 應變矽 |
| Superlattice | 超格子ちょうこうし | 超晶格 |
| Threading dislocation | 貫通転位かんつうてんい | 貫穿差排 |
Oxidation and diffusion
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Bird's beak | バーズビークばーずびーく | 鳥嘴效應 |
| Deal-Grove model | Deal-Groveモデルでぃーるぐろーぶもでる | Deal-Grove模型 |
| Drive-in | ドライブインどらいぶいん | 驅入擴散 |
| Dry oxidation | ドライ酸化どらいさんか | 乾式氧化 |
| Forming gas anneal | フォーミングガスアニールふぉーみんぐがすあにーる | 合成氣體退火 |
| Interface states | 界面準位かいめんじゅんい | 界面能態 |
| LOCOS | LOCOSろこす | LOCOS(局部矽氧化隔離) |
| Mobile ions | 可動イオンかどういおん | 可動離子 |
| Oxidation-enhanced diffusion (OED) | 酸化増速拡散(OED)さんかぞうそくかくさん | 氧化增強擴散(OED) |
| Oxynitride (SiON) | 酸窒化膜(SiON)さんちっかまく | 氮氧化矽膜(SiON) |
| RTP (rapid thermal processing) | RTP(急速熱処理)あーるてぃーぴー | RTP(快速熱處理) |
| STI (shallow trench isolation) | STI(シャロートレンチ分離)えすてぃーあい | STI(淺溝槽隔離) |
| Thermal diffusion | 熱拡散ねつかくさん | 熱擴散 |
| Thermal oxidation | 熱酸化ねつさんか | 熱氧化 |
| Wet oxidation | ウェット酸化うぇっとさんか | 濕式氧化 |
Ion implantation
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Annealing | アニールあにーる | 退火 |
| Channeling | チャネリングちゃねりんぐ | 通道效應(Channeling) |
| Faraday cup | ファラデーカップふぁらでーかっぷ | 法拉第杯 |
| Halo implant (pocket implant) | ハロー注入(ポケット注入)はろーちゅうにゅう | 暈環佈植(口袋佈植) |
| Implant dose | ドーズ量どーずりょう | 佈植劑量 |
| Ion implantation | イオン注入いおんちゅうにゅう | 離子佈植 |
| Laser anneal | レーザーアニールれーざーあにーる | 雷射退火 |
| Plasma doping | プラズマドーピングぷらずまどーぴんぐ | 電漿摻雜 |
| Pre-amorphization implant (PAI) | プリアモルファス化注入(PAI)ぷりあもるふぁすかちゅうにゅう | 預非晶化佈植(PAI) |
| Projected range | 投影飛程とうえいひてい | 投影射程 |
| Retrograde well | レトログレードウェルれとろぐれーどうぇる | 逆向摻雜井 |
| Shadowing | シャドウイングしゃどういんぐ | 遮蔽效應 |
| Solid solubility | 固溶度こようど | 固溶度 |
| Spike anneal | スパイクアニールすぱいくあにーる | 尖峰退火 |
| Transient enhanced diffusion (TED) | 過渡増速拡散(TED)かとぞうそくかくさん | 暫態增強擴散(TED) |
Deposition (CVD and PVD)
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| ALD | ALDえーえるでぃー | ALD(原子層沉積) |
| Area-selective deposition | 領域選択成膜りょういきせんたくせいまく | 區域選擇性沉積 |
| CVD | CVDしーぶいでぃー | CVD(化學氣相沉積) |
| Electroplating | 電解めっきでんかいめっき | 電鍍 |
| Electrostatic chuck | 静電チャックせいでんちゃっく | 靜電吸盤 |
| HDP-CVD (high-density plasma CVD) | HDP-CVD(高密度プラズマCVD)えいちでぃーぴーしーぶいでぃー | HDP-CVD(高密度電漿化學氣相沉積) |
| LPCVD (low-pressure CVD) | LPCVD(減圧CVD)えるぴーしーぶいでぃー | LPCVD(低壓化學氣相沉積) |
| Magnetron sputtering | マグネトロンスパッタリングまぐねとろんすぱったりんぐ | 磁控濺鍍 |
| PECVD (plasma-enhanced CVD) | PECVD(プラズマCVD)ぴーいーしーぶいでぃー | PECVD(電漿輔助化學氣相沉積) |
| Reactive sputtering | 反応性スパッタリングはんのうせいすぱったりんぐ | 反應式濺鍍 |
| Spin coating | スピンコートすぴんこーと | 旋轉塗佈 |
| Sputtering | スパッタリングすぱったりんぐ | 濺鍍 |
| Step coverage | ステップカバレッジすてっぷかばれっじ | 階梯覆蓋率 |
| TEOS | TEOSてぃーおす | TEOS |
| Vacuum evaporation | 真空蒸着しんくうじょうちゃく | 真空蒸鍍 |
Lithography
Etching
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| ALE (atomic layer etching) | ALE(原子層エッチング)えーえるいー | ALE(原子層蝕刻) |
| Anisotropic etching | 異方性エッチングいほうせいえっちんぐ | 非等向性蝕刻 |
| Antenna effect | アンテナ効果あんてなこうか | 天線效應 |
| ARDE (aspect-ratio-dependent etching) | ARDE(アスペクト比依存エッチング)えーあーるでぃーいー | ARDE(深寬比相依蝕刻) |
| Ashing | アッシングあっしんぐ | 灰化 |
| Aspect ratio | アスペクト比あすぺくとひ | 深寬比 |
| Buffered hydrofluoric acid (BHF) | バッファードフッ酸(BHF)ばっふぁーどふっさん | 緩衝氫氟酸(BHF) |
| Dry etching | ドライエッチングどらいえっちんぐ | 乾式蝕刻 |
| Endpoint detection | 終点検出しゅうてんけんしゅつ | 終點偵測 |
| Hard mask | ハードマスクはーどますく | 硬遮罩 |
| ICP (inductively coupled plasma) | ICP(誘導結合プラズマ)あいしーぴー | ICP(感應耦合電漿) |
| Isotropic etching | 等方性エッチングとうほうせいえっちんぐ | 等向性蝕刻 |
| Overetch | オーバーエッチングおーばーえっちんぐ | 過度蝕刻(Over-etch) |
| Plasma | プラズマぷらずま | 電漿 |
| Radical | ラジカルらじかる | 自由基 |
| RIE (reactive ion etching) | RIE(反応性イオンエッチング)あーるあいいー | RIE(反應式離子蝕刻) |
| Seasoning | シーズニングしーずにんぐ | 腔體調適(Seasoning) |
| Selectivity | 選択比せんたくひ | 蝕刻選擇比 |
| Self-bias | セルフバイアスせるふばいあす | 自偏壓 |
| Wet etching | ウェットエッチングうぇっとえっちんぐ | 濕式蝕刻 |
CMP and cleaning
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Ceria (cerium oxide) | セリア(酸化セリウム)せりあ | 氧化鈰(Ceria) |
| CMP | CMPしーえむぴー | CMP(化學機械研磨) |
| Dilute hydrofluoric acid (DHF) | 希フッ酸(DHF)きふっさん | 稀釋氫氟酸(DHF) |
| Dishing | ディッシングでぃっしんぐ | 碟形凹陷 |
| Erosion | エロージョンえろーじょん | CMP侵蝕 |
| Megasonic cleaning | メガソニック洗浄めがそにっくせんじょう | 兆聲波清洗 |
| Native oxide | 自然酸化膜しぜんさんかまく | 原生氧化膜 |
| Pad conditioning | パッドコンディショニングぱっどこんでぃしょにんぐ | 研磨墊修整 |
| Pattern collapse | パターン倒壊ぱたーんとうかい | 圖案倒塌 |
| Preston's equation | プレストンの式ぷれすとんのしき | 普勒斯頓方程式 |
| RCA clean | RCA洗浄あーるしーえーせんじょう | RCA清洗 |
| SC-1 (APM) | SC-1(APM)えすしーわん | SC-1(APM) |
| SC-2 (HPM) | SC-2(HPM)えすしーつー | SC-2(HPM) |
| Single-wafer cleaning | 枚葉式洗浄まいようしきせんじょう | 單晶圓清洗 |
| Slurry | スラリーすらりー | 研磨液 |
| SPM (sulfuric acid-hydrogen peroxide mixture) | SPM(硫酸過水)えすぴーえむ | SPM(硫酸雙氧水混合液) |
Interconnect processes
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Air gap | エアギャップえあぎゃっぷ | 氣隙 |
| Backside power delivery | 裏面電源供給りめんでんげんきょうきゅう | 背面供電 |
| Barrier metal | バリアメタルばりあめたる | 阻障金屬 |
| Black's equation | ブラックの式ぶらっくのしき | Black方程式 |
| Crosstalk | クロストークくろすとーく | 串擾 |
| Damascene process | ダマシン法だましんほう | 鑲嵌製程 |
| Dual damascene | デュアルダマシン法でゅあるだましんほう | 雙鑲嵌製程 |
| Interconnect via | ビアびあ | 導通孔 |
| IR drop | IRドロップあいあーるどろっぷ | IR壓降 |
| Low-k material | Low-k材料ろーけーざいりょう | 低介電常數材料(Low-k) |
| MOL (middle of line) | MOL(ミドル・オブ・ライン)えむおーえる | MOL(中段製程) |
| Multilevel interconnect | 多層配線たそうはいせん | 多層金屬導線 |
| Passivation layer | パッシベーション膜ぱっしべーしょんまく | 保護層(Passivation) |
| RC delay | RC遅延あーるしーちえん | RC延遲 |
| Seed layer | シード層しーどそう | 晶種層 |
| Silicide | シリサイドしりさいど | 矽化物 |
| Skin effect | 表皮効果ひょうひこうか | 集膚效應 |
| Transistor contact | コンタクトこんたくと | 接觸窗 |
Process materials (gases and chemicals)
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Arsine (AsH3) | アルシン(AsH3)あるしん | 砷化氫(AsH3) |
| Mass flow controller (MFC) | マスフローコントローラ(MFC)ますふろーこんとろーら | 質量流量控制器(MFC) |
| NF3 (nitrogen trifluoride) | NF3(三フッ化窒素)えぬえふすりー | NF3(三氟化氮) |
| Phosphine (PH3) | ホスフィン(PH3)ほすふぃん | 磷化氫(PH3) |
| Precursor | プリカーサ(前駆体)ぷりかーさ | 前驅物 |
| Silane (SiH4) | シラン(SiH4)しらん | 矽烷(SiH4) |
| Specialty gases | 特殊材料ガスとくしゅざいりょうがす | 特殊材料氣體 |
| TMAH | TMAHてぃーえむえーえいち | TMAH(氫氧化四甲基銨) |
| Ultrapure water | 超純水ちょうじゅんすい | 超純水 |
Back-end and evaluation
Packaging and assembly
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Backgrinding | バックグラインドばっくぐらいんど | 背面研磨 |
| BGA | BGAびーじーえー | BGA(球柵陣列) |
| CSP (chip-scale package) | CSP(チップサイズパッケージ)しーえすぴー | CSP(晶片尺寸封裝) |
| Dicing | ダイシングだいしんぐ | 晶圓切割 |
| Die bonding | ダイボンディングだいぼんでぃんぐ | 晶粒接合 |
| Flip chip | フリップチップふりっぷちっぷ | 覆晶 |
| Lead frame | リードフレームりーどふれーむ | 導線架 |
| QFN (quad flat no-lead package) | QFNきゅーえふえぬ | QFN(四方扁平無引腳封裝) |
| QFP (quad flat package) | QFPきゅーえふぴー | QFP(四方扁平封裝) |
| Reflow soldering | リフローはんだ付けりふろーはんだづけ | 回焊焊接 |
| Thermal resistance | 熱抵抗ねつていこう | 熱阻 |
| Underfill | アンダーフィルあんだーふぃる | 底部填充膠 |
| Wire bonding | ワイヤボンディングわいやぼんでぃんぐ | 打線接合 |
| WLP (wafer-level package) | WLP(ウエハレベルパッケージ)だぶりゅーえるぴー | WLP(晶圓級封裝) |
Testing and inspection
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| ATE (automatic test equipment) | ATE(自動試験装置)えーてぃーいー | ATE(自動測試設備) |
| ATPG (automatic test pattern generation) | ATPG(自動テストパターン生成)えーてぃーぴーじー | ATPG(自動測試向量產生) |
| BIST (built-in self-test) | BIST(組み込み自己テスト)びすと | BIST(內建自我測試) |
| Burn-in | バーンインばーんいん | 預燒測試(Burn-in) |
| DFT (design for testability) | DFT(テスト容易化設計)てすとよういかせっけい | DFT(可測試性設計) |
| Fault coverage | 故障検出率(フォールトカバレッジ)こしょうけんしゅつりつ | 故障涵蓋率 |
| IDDQ test | IDDQテストあいでぃーでぃーきゅーてすと | IDDQ測試 |
| KGD (known good die) | KGD(ノウングッドダイ)けーじーでぃー | KGD(已知良品晶粒) |
| Probe card | プローブカードぷろーぶかーど | 探針卡 |
| Scan test | スキャンテストすきゃんてすと | 掃描測試 |
| Stuck-at fault | 縮退故障しゅくたいこしょう | 固定型故障 |
| Wafer test (probe test) | ウエハテスト(プローブテスト)うえはてすと | 晶圓測試(探針測試) |
Metrology and analysis
Yield and quality control
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| APC (advanced process control) | APC(先進的プロセス制御)えーぴーしー | APC(先進製程控制) |
| Cause-and-effect diagram | 特性要因図とくせいよういんず | 特性要因圖 |
| Control chart | 管理図かんりず | 管制圖 |
| FMEA (failure mode and effects analysis) | FMEA(故障モード影響解析)えふえむいーえー | FMEA(失效模式與效應分析) |
| Killer defect | キラー欠陥きらーけっかん | 致命缺陷 |
| Pareto chart | パレート図ぱれーとず | 柏拉圖 |
| Poisson yield model | ポアソン歩留まりモデルぽあそんぶどまりもでる | 帕松良率模型 |
| Process capability index (Cpk) | 工程能力指数(Cpk)こうていのうりょくしすう | 製程能力指數(Cpk) |
| SPC (statistical process control) | SPC(統計的工程管理)えすぴーしー | SPC(統計製程管制) |
| Systematic defect | システマティック不良しすてまてぃっくふりょう | 系統性缺陷 |
| Yield | 歩留まりぶどまり | 良率 |
Reliability
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Arrhenius model | アレニウスモデルあれにうすもでる | 阿瑞尼斯模型 |
| Bathtub curve | バスタブ曲線ばすたぶきょくせん | 浴缸曲線 |
| Electromigration | エレクトロマイグレーションえれくとろまいぐれーしょん | 電遷移 |
| ESD (electrostatic discharge) | ESD(静電気放電)いーえすでぃー | ESD(靜電放電) |
| FIT rate | FITふぃっと | FIT(失效率單位) |
| High-temperature storage test (HTS) | 高温放置試験(高温保存試験)こうおんほうちしけん | 高溫儲存試驗(HTS) |
| Hot carrier injection (HCI) | ホットキャリア注入(HCI)ほっときゃりあちゅうにゅう | 熱載子注入(HCI) |
| HTOL (high-temperature operating life test) | HTOL(高温動作寿命試験)えいちとる | HTOL(高溫工作壽命試驗) |
| Latch-up | ラッチアップらっちあっぷ | 閂鎖效應 |
| MTTF (mean time to failure) | MTTF(平均故障時間)えむてぃーてぃーえふ | MTTF(平均失效時間) |
| NBTI (negative bias temperature instability) | NBTIえぬびーてぃーあい | NBTI(負偏壓溫度不穩定性) |
| Soft error | ソフトエラーそふとえらー | 軟錯誤 |
| TDDB (time-dependent dielectric breakdown) | TDDB(経時絶縁破壊)てぃーでぃーでぃーびー | TDDB(經時介電崩潰) |
| Temperature cycling | 温度サイクル試験おんどさいくるしけん | 溫度循環試驗 |
| THB (temperature-humidity-bias test) | 高温高湿バイアス試験(THB)こうおんこうしつばいあすしけん | 高溫高濕偏壓試驗(THB) |
| Weibull distribution | ワイブル分布わいぶるぶんぷ | 韋伯分布 |
Design and industry
IC design flow and EDA
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Clock gating | クロックゲーティングくろっくげーてぃんぐ | 時脈閘控 |
| DRC (design rule check) | DRC(デザインルールチェック)でぃーあーるしー | DRC(設計規則檢查) |
| FPGA | FPGAえふぴーじーえー | FPGA(現場可程式化閘陣列) |
| High-level synthesis (HLS) | 高位合成(HLS)こういごうせい | 高階合成(HLS) |
| Logic synthesis | 論理合成ろんりごうせい | 邏輯合成 |
| LVS | LVSえるぶいえす | LVS(佈局與電路圖比對) |
| Netlist | ネットリストねっとりすと | 網表 |
| PDK (process design kit) | PDK(プロセスデザインキット)ぴーでぃーけー | PDK(製程設計套件) |
| Place and route | 配置配線はいちはいせん | 佈局與繞線 |
| RTL (register-transfer level) | RTL(レジスタ転送レベル)あーるてぃーえる | RTL(暫存器傳輸層級) |
| SPICE | SPICEすぱいす | SPICE |
| STA (static timing analysis) | STA(静的タイミング解析)せいてきたいみんぐかいせき | STA(靜態時序分析) |
| Standard cell | スタンダードセルすたんだーどせる | 標準元件 |
| Tape-out | テープアウトてーぷあうと | 投片(Tape-out) |
Timing analysis and CDC
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Asynchronous FIFO | 非同期FIFOひどうきふぁいふぉ | 非同步 FIFO |
| Clock domain | クロックドメインくろっくどめいん | 時脈域 |
| Clock uncertainty | クロックの不確かさくろっくのふたしかさ | 時脈不確定性 |
| Critical path | クリティカルパスくりてぃかるぱす | 關鍵路徑 |
| CRPR (clock reconvergence pessimism removal) | CRPR(共通パスの悲観性の除去)しーあーるぴーあーる | CRPR(共同路徑悲觀性去除) |
| False path | フォールスパスふぉーるすぱす | 偽路徑(False path) |
| Handshake | ハンドシェイクはんどしぇいく | 交握(Handshake) |
| MTBF (mean time between failures) | MTBF(平均故障間隔)えむてぃーびーえふ | MTBF(平均故障間隔) |
| Multicycle path | マルチサイクルパスまるちさいくるぱす | 多週期路徑 |
| OCV (on-chip variation) | OCV(オンチップばらつき)おーしーぶい | OCV(晶片內變異) |
| Recovery check | リカバリーチェックりかばりーちぇっく | 恢復檢查(Recovery check) |
| SDC | SDCえすでぃーしー | SDC |
| Slack | スラックすらっく | Slack(時序裕度) |
| Synchronizer | 同期化回路どうきかかいろ | 同步器(Synchronizer) |
| Toggle synchronizer | トグル同期とぐるどうき | 翻轉同步器(Toggle synchronizer) |
| WNS (worst negative slack) | WNS(ワーストネガティブスラック)だぶりゅーえぬえす | WNS(最差負時序裕度) |
Cleanrooms and equipment
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Airborne molecular contamination (AMC) | 分子状汚染(AMC)ぶんしじょうおせん | 氣態分子汙染(AMC) |
| AMHS (automated material handling system) | AMHS(自動搬送システム)えーえむえいちえす | AMHS(自動化物料搬運系統) |
| Downflow | ダウンフローだうんふろー | 下降氣流 |
| EFEM | EFEMいーふぇむ | EFEM(設備前端模組) |
| FFU (fan filter unit) | FFU(ファンフィルタユニット)えふえふゆー | FFU(風扇過濾機組) |
| FOUP | FOUPふーぷ | FOUP |
| HEPA filter | HEPAフィルタへぱふぃるた | HEPA濾網 |
| ISO 14644-1 | ISO 14644-1あいえすおー14644-1 | ISO 14644-1 |
| Mini-environment | ミニエンバイロメントみにえんばいろめんと | 微環境 |
| OHT (overhead hoist transport) | OHT(天井走行式無人搬送車)おーえいちてぃー | OHT(天車式無人搬運車) |
| ULPA filter | ULPAフィルタうるぱふぃるた | ULPA濾網 |
Environment, health and safety
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Abatement system | 除害装置じょがいそうち | 廢氣處理設備 |
| GHS | GHSじーえいちえす | GHS(全球化學品調和制度) |
| Local exhaust ventilation | 局所排気装置きょくしょはいきそうち | 局部排氣裝置 |
| Lockout/tagout (LOTO) | ロックアウト・タグアウト(LOTO)ろっくあうとたぐあうと | 上鎖掛籤(LOTO) |
| Lower explosive limit (LEL) | 爆発下限界(LEL)ばくはつかげんかい | 爆炸下限(LEL) |
| Oxygen deficiency | 酸素欠乏(酸欠)さんそけつぼう | 缺氧 |
| Perfluorocarbons | パーフルオロカーボンぱーふるおろかーぼん | 全氟碳化物(PFC) |
| Risk assessment | リスクアセスメントりすくあせすめんと | 風險評估 |
| RoHS Directive | RoHS指令ろーずしれい | RoHS指令 |
| SDS (safety data sheet) | SDS(安全データシート)あんぜんでーたしーと | SDS(安全資料表) |
Semiconductor industry and market
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| ASIC (application-specific integrated circuit) | ASIC(特定用途向けIC)えーしっく | ASIC(特殊應用積體電路) |
| Dennard scaling | デナードスケーリングでなーどすけーりんぐ | 丹納德縮放定律 |
| Discrete semiconductor | ディスクリート半導体でぃすくりーとはんどうたい | 離散式半導體 |
| Fabless | ファブレスふぁぶれす | 無晶圓廠設計公司(Fabless) |
| Foundry | ファウンドリふぁうんどり | 晶圓代工廠 |
| IDM (integrated device manufacturer) | IDM(垂直統合型デバイスメーカー)あいでぃーえむ | IDM(整合元件製造商) |
| Moore's law | ムーアの法則むーあのほうそく | 摩爾定律 |
| MPW (multi-project wafer) | MPW(マルチプロジェクトウエハ)えむぴーだぶりゅー | MPW(多專案晶圓) |
| OSAT | OSATおーさっと | OSAT(封裝測試代工廠) |
| Rapidus | ラピダス(Rapidus)らぴだす | Rapidus |
| Silicon cycle | シリコンサイクルしりこんさいくる | 矽循環 |
| SoC (system on chip) | SoC(システムオンチップ)えすおーしー | SoC(系統單晶片) |
Advanced packaging (3D and chiplets)
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| 2.5D packaging | 2.5D実装にてんごでぃーじっそう | 2.5D封裝 |
| 3D packaging | 3D実装すりーでぃーじっそう | 3D封裝 |
| Chiplet | チップレットちっぷれっと | 小晶片(Chiplet) |
| CoWoS | CoWoSこわす | CoWoS |
| Glass core substrate | ガラスコア基板がらすこあきばん | 玻璃核心基板 |
| HBM | HBMえいちびーえむ | HBM(高頻寬記憶體) |
| Hybrid bonding | ハイブリッドボンディングはいぶりっどぼんでぃんぐ | 混合鍵合 |
| Microbump | マイクロバンプまいくろばんぷ | 微凸塊 |
| Panel-level packaging (PLP) | パネルレベルパッケージ(PLP)ぱねるれべるぱっけーじ | 面板級封裝(PLP) |
| Redistribution layer (RDL) | 再配線層(RDL)さいはいせんそう | 重佈線層(RDL) |
| Silicon interposer | シリコンインターポーザしりこんいんたーぽーざ | 矽中介層 |
| TSV (through-silicon via) | TSV(シリコン貫通電極)しりこんかんつうでんきょく | TSV(矽穿孔) |
| UCIe | UCIeゆーしーあいいー | UCIe(通用小晶片互連) |
How to read datasheets
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| 5 V tolerant | 5 Vトレラントごぼるととれらんと | 5 V 容忍(5 V tolerant) |
| Absolute maximum ratings | 絶対最大定格ぜったいさいだいていかく | 絕對最大額定值 |
| Allowable power dissipation | 許容損失きょようそんしつ | 容許功率損耗 |
| Derating | ディレーティングでぃれーてぃんぐ | 降額(Derating) |
| Dropout voltage | ドロップアウト電圧どろっぷあうとでんあつ | 壓差電壓(Dropout voltage) |
| Errata | エラッタえらった | 勘誤表(Errata) |
| Exposed pad | 露出パッド(エクスポーズドパッド)ろしゅつぱっど | 外露焊墊(Exposed pad) |
| Input offset voltage | 入力オフセット電圧にゅうりょくおふせっとでんあつ | 輸入偏移電壓 |
| MSL (moisture sensitivity level) | MSL(吸湿感度レベル)えむえすえる | MSL(濕度敏感等級) |
| Noise margin | ノイズマージンのいずまーじん | 雜訊邊限 |
| Open-drain output | オープンドレインおーぷんどれいん | 開汲極(Open-drain) |
| Propagation delay | 伝搬遅延でんぱんちえん | 傳播延遲 |
| Quiescent current | 静止電流せいしでんりゅう | 靜態電流(Quiescent current) |
| Rail-to-rail | レール・ツー・レールれーるつーれーる | 軌對軌(Rail-to-rail) |
| Recommended operating conditions | 推奨動作条件すいしょうどうさじょうけん | 建議操作條件 |
| Safe operating area | 安全動作領域あんぜんどうさりょういき | 安全操作區 |
Computer systems
Computer Arithmetic
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Arithmetic shift | 算術シフトさんじゅつしふと | 算術位移 |
| bfloat16 | bfloat16びーふろーとじゅうろく | bfloat16 |
| Booth's algorithm | ブースのアルゴリズムぶーすのあるごりずむ | 布斯演算法(Booth's algorithm) |
| Carry-lookahead adder | 桁上げ先見加算器けたあげせんけんかさんき | 先行進位加法器 |
| Carry-save adder | 桁上げ保存加算器けたあげほぞんかさんき | 進位保留加法器 |
| Catastrophic cancellation | 桁落ちけたおち | 有效位數損失(Catastrophic cancellation) |
| Exponent field | 指数部しすうぶ | 指數欄位 |
| Fixed point | 固定小数点こていしょうすうてん | 定點數 |
| Floating-point absorption | 情報落ちじょうほうおち | 資訊遺失(Absorption) |
| FP8 | FP8えふぴーはち | FP8 |
| Fused multiply-add | FMA(融合積和演算)えふえむえー | FMA(融合乘加運算) |
| IEEE 754 | IEEE 754あいとりぷるいーななごーよん | IEEE 754 |
| INT8 | INT8いんとはち | INT8 |
| Machine epsilon | マシンイプシロンましんいぷしろん | 機器epsilon(Machine epsilon) |
| NaN | NaNなん | NaN |
| Round half to even | 最近接偶数丸めさいきんせつぐうすうまるめ | 捨入至最接近偶數 |
| Saturating arithmetic | 飽和演算ほうわえんざん | 飽和運算 |
| Significand | 仮数かすう | 有效數(Significand) |
| Subnormal number | 非正規化数ひせいきかすう | 非正規化數 |
| Wallace tree | ウォレスツリーうぉれすつりー | 華里士樹(Wallace tree) |
Probability, Statistics and Queueing
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Bayes' theorem | ベイズの定理べいずのていり | 貝氏定理 |
| Binomial distribution | 二項分布にこうぶんぷ | 二項分布 |
| Conditional probability | 条件付き確率じょうけんつきかくりつ | 條件機率 |
| Confidence interval | 信頼区間しんらいくかん | 信賴區間 |
| Correlation coefficient | 相関係数そうかんけいすう | 相關係數 |
| Expected value | 期待値きたいち | 期望值 |
| Exponential distribution | 指数分布しすうぶんぷ | 指數分布 |
| Hypothesis testing | 仮説検定かせつけんてい | 假設檢定 |
| Median | 中央値ちゅうおうち | 中位數 |
| Normal distribution | 正規分布せいきぶんぷ | 常態分布 |
| Permutations and combinations | 順列と組合せじゅんれつとくみあわせ | 排列與組合 |
| Poisson distribution | ポアソン分布ぽあそんぶんぷ | 卜瓦松分布 |
| Quartile | 四分位数しぶんいすう | 四分位數 |
| Queueing theory | 待ち行列理論まちぎょうれつりろん | 等候理論 |
| Standard deviation | 標準偏差ひょうじゅんへんさ | 標準差 |
Information Theory and Coding Basics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Average code length | 平均符号長へいきんふごうちょう | 平均碼長 |
| Binary symmetric channel | 二元対称通信路にげんたいしょうつうしんろ | 二元對稱通道 |
| Forward error correction (FEC) | 前方誤り訂正(FEC)ぜんぽうあやまりていせい | 前向錯誤更正（FEC） |
| Hamming code | ハミング符号はみんぐふごう | 漢明碼 |
| Hamming distance | ハミング距離はみんぐきょり | 漢明距離 |
| Huffman coding | ハフマン符号はふまんふごう | 霍夫曼編碼 |
| Information entropy | 情報エントロピーじょうほうえんとろぴー | 資訊熵 |
| Kraft inequality | クラフトの不等式くらふとのふとうしき | 克拉夫特不等式 |
| Lossless compression | 可逆圧縮かぎゃくあっしゅく | 無失真壓縮 |
| Lossy compression | 非可逆圧縮ひかぎゃくあっしゅく | 有失真壓縮 |
| Mutual information | 相互情報量そうごじょうほうりょう | 互資訊 |
| Parity bit | パリティビットぱりてぃびっと | 同位位元 |
| Prefix code | 接頭符号せっとうふごう | 前綴碼 |
| Run-length encoding | ランレングス符号化らんれんぐすふごうか | 行程長度編碼（RLE） |
| Self-information | 情報量じょうほうりょう | 資訊量 |
ISA & Assembly
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Addressing mode | アドレッシングモードあどれっしんぐもーど | 定址模式 |
| Application binary interface (ABI) | ABI(アプリケーションバイナリインターフェース)えーびーあい | ABI(應用程式二進位介面) |
| Assembler | アセンブラあせんぶら | 組譯器 |
| Branch delay slot | 分岐遅延スロットぶんきちえんすろっと | 分支延遲槽 |
| Callee-saved register | 呼び出し先保存レジスタよびだしさきほぞんれじすた | 被呼叫者保存暫存器 |
| Caller-saved register | 呼び出し元保存レジスタよびだしもとほぞんれじすた | 呼叫者保存暫存器 |
| Calling convention | 呼び出し規約よびだしきやく | 呼叫慣例 |
| Compressed instruction | 圧縮命令あっしゅくめいれい | 壓縮指令 |
| Condition code | 条件コードじょうけんこーど | 條件碼 |
| Frame pointer | フレームポインタふれーむぽいんた | 框指標 |
| Immediate operand | 即値そくち | 立即值 |
| Leaf function | 葉関数はかんすう | 葉函式 |
| Load-store architecture | ロード・ストア・アーキテクチャろーど・すとあ・あーきてくちゃ | 載入儲存架構 |
| Micro-operation | マイクロオペレーションまいくろおぺれーしょん | 微運算(Micro-operation) |
| PC-relative addressing | PC相対アドレッシングぴーしーそうたいあどれっしんぐ | PC相對定址 |
| Pseudo-instruction | 疑似命令ぎじめいれい | 虛擬指令(Pseudo-instruction) |
| Return address | リターンアドレスりたーんあどれす | 返回位址 |
| Sign extension | 符号拡張ふごうかくちょう | 符號擴展 |
| Stack frame | スタックフレームすたっくふれーむ | 堆疊框 |
| Stack pointer | スタックポインタすたっくぽいんた | 堆疊指標 |
Compilers
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Abstract syntax tree | 抽象構文木(AST)ちゅうしょうこうぶんぎ | 抽象語法樹(AST) |
| Basic block | 基本ブロックきほんぶろっく | 基本區塊 |
| Common subexpression elimination | 共通部分式の削除きょうつうぶぶんしきのさくじょ | 共同子運算式消除 |
| Constant folding | 定数畳み込みていすうたたみこみ | 常數摺疊 |
| Control-flow graph | 制御フローグラフせいぎょふろーぐらふ | 控制流程圖 |
| Function inlining | インライン展開いんらいんてんかい | 行內展開 |
| Instruction scheduling | 命令スケジューリングめいれいすけじゅーりんぐ | 指令排程 |
| Intermediate representation | 中間表現ちゅうかんひょうげん | 中間表示法(IR) |
| JIT compilation | JITコンパイルじっとこんぱいる | JIT編譯(即時編譯) |
| Lexical analysis | 字句解析じくかいせき | 詞法分析 |
| LLVM | LLVMえるえるぶいえむ | LLVM |
| Loop unrolling | ループ展開るーぷてんかい | 迴圈展開 |
| Register allocation | レジスタ割り当てれじすたわりあて | 暫存器配置 |
| Register spilling | スピルすぴる | 暫存器溢出(Spill) |
| SSA form | SSA形式えすえすえーけいしき | SSA形式(靜態單賦值形式) |
| Strength reduction | 強度低減きょうどていげん | 強度削減 |
| Syntax analysis (parsing) | 構文解析こうぶんかいせき | 語法分析 |
| Vectorization | ベクトル化べくとるか | 向量化 |
Linkers, Loaders & Executables
OS & Hardware
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| ASID | ASID(アドレス空間識別子)えーえすあいでぃー | ASID(位址空間識別碼) |
| Context switch | コンテキストスイッチこんてきすとすいっち | 環境切換 |
| Copy-on-write | コピーオンライトこぴーおんらいと | 寫入時複製 |
| Demand paging | デマンドページングでまんどぺーじんぐ | 隨需分頁 |
| Device driver | デバイスドライバでばいすどらいば | 裝置驅動程式 |
| Hypervisor | ハイパーバイザはいぱーばいざ | 虛擬機器監視器(Hypervisor) |
| Interrupt handler | 割り込みハンドラわりこみはんどら | 中斷處理常式 |
| Interrupt vector table | 割り込みベクタテーブルわりこみべくたてーぶる | 中斷向量表 |
| IOMMU | IOMMUあいおーえむえむゆー | IOMMU(輸入輸出記憶體管理單元) |
| Memory-mapped I/O | メモリマップドI/Oめもりまっぷどあいおー | 記憶體對映I/O |
| Nested paging | 入れ子ページングいれこぺーじんぐ | 巢狀分頁 |
| Non-maskable interrupt | NMI(マスク不可能割り込み)えぬえむあい | NMI(不可遮罩中斷) |
| Page fault | ページフォルトぺーじふぉると | 頁面錯誤 |
| Page table | ページテーブルぺーじてーぶる | 頁表 |
| Privileged mode | 特権モードとっけんもーど | 特權模式 |
| System call | システムコールしすてむこーる | 系統呼叫 |
| Thrashing | スラッシングすらっしんぐ | 輪替癱瘓(Thrashing) |
| TLB shootdown | TLBシュートダウンてぃーえるびーしゅーとだうん | TLB擊落(TLB shootdown) |
Linux and Command-Line Basics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| cron | cronくろん | cron |
| Environment variable | 環境変数かんきょうへんすう | 環境變數 |
| File permissions | パーミッションぱーみっしょん | 檔案權限 |
| Git | Gitぎっと | Git |
| grep | grepぐれっぷ | grep |
| Hard link | ハードリンクはーどりんく | 硬連結 |
| I/O redirection | 入出力のリダイレクトにゅうしゅつりょくのりだいれくと | 輸入輸出重新導向 |
| inode | inodeあいのーど | inode |
| Pipe (|) | パイプ(|)ぱいぷ | 管線（|） |
| Regular expression | 正規表現せいきひょうげん | 正規表示式 |
| Shell | シェルしぇる | Shell（命令解譯器） |
| Signal (Unix) | シグナル(Unix)しぐなる | 訊號（Unix） |
| SSH | SSHえすえすえいち | SSH |
| Superuser | スーパーユーザすーぱーゆーざ | 超級使用者 |
| Symbolic link | シンボリックリンクしんぼりっくりんく | 符號連結 |
Memory Hierarchy
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Average memory access time | 平均メモリアクセス時間(AMAT)へいきんめもりあくせすじかん | 平均記憶體存取時間(AMAT) |
| Cache line | キャッシュラインきゃっしゅらいん | 快取行 |
| Capacity miss | 容量ミスようりょうみす | 容量失誤 |
| Compulsory miss | 初期参照ミスしょきさんしょうみす | 強制性失誤 |
| Conflict miss | 競合ミスきょうごうみす | 衝突失誤 |
| Direct-mapped cache | ダイレクトマップ方式だいれくとまっぷほうしき | 直接映射快取 |
| Fully associative cache | フルアソシアティブ方式ふるあそしあてぃぶほうしき | 全相聯快取 |
| Loop blocking | ループブロッキングるーぷぶろっきんぐ | 迴圈分塊 |
| LRU replacement | LRU(Least Recently Used)えるあーるゆー | LRU(最近最少使用) |
| Miss penalty | ミスペナルティみすぺなるてぃ | 失誤懲罰 |
| Non-blocking cache | ノンブロッキングキャッシュのんぶろっきんぐきゃっしゅ | 非阻塞快取 |
| Prefetching | プリフェッチぷりふぇっち | 預取 |
| Set-associative cache | セットアソシアティブ方式せっとあそしあてぃぶほうしき | 組相聯快取 |
| Spatial locality | 空間的局所性くうかんてききょくしょせい | 空間局部性 |
| Temporal locality | 時間的局所性じかんてききょくしょせい | 時間局部性 |
| Write-allocate | ライトアロケートらいとあろけーと | 寫入配置(Write-allocate) |
| Write-through | ライトスルー方式らいとするーほうしき | 寫穿(Write-through) |
Multicore & Synchronization
GPU Programming
AI Hardware & Software Stack
Machine Learning Basics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Activation function | 活性化関数かっせいかかんすう | 啟動函數（Activation function） |
| Confusion matrix | 混同行列こんどうぎょうれつ | 混淆矩陣（Confusion matrix） |
| Convolutional neural network (CNN) | 畳み込みニューラルネットワーク(CNN)たたみこみにゅーらるねっとわーく | 卷積神經網路（CNN） |
| Cross-validation | 交差検証こうさけんしょう | 交叉驗證（Cross-validation） |
| Gradient descent | 勾配降下法こうばいこうかほう | 梯度下降法（Gradient descent） |
| k-means clustering | k平均法けーへいきんほう | k-平均演算法（k-means clustering） |
| Overfitting | 過学習かがくしゅう | 過擬合（Overfitting） |
| Precision and recall | 適合率と再現率てきごうりつとさいげんりつ | 精確率與召回率（Precision and recall） |
| Principal component analysis (PCA) | 主成分分析(PCA)しゅせいぶんぶんせき | 主成分分析（PCA） |
| Recurrent neural network (RNN) | 再帰型ニューラルネットワーク(RNN)さいきがたにゅーらるねっとわーく | 遞迴神經網路（RNN） |
| Regularization | 正則化せいそくか | 正規化（Regularization） |
| Reinforcement learning | 強化学習きょうかがくしゅう | 強化學習（Reinforcement learning） |
| Supervised learning | 教師あり学習きょうしありがくしゅう | 監督式學習（Supervised learning） |
| Transfer learning | 転移学習てんいがくしゅう | 遷移學習（Transfer learning） |
| Unsupervised learning | 教師なし学習きょうしなしがくしゅう | 非監督式學習（Unsupervised learning） |
Embedded Systems & Firmware
HDL & Verification
I/O Interfaces & Buses
Computer Networking Basics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| ARP | ARPえーあーるぴー | ARP |
| CIDR | CIDRさいだー | CIDR |
| CSMA/CA | CSMA/CAしーえすえむえーしーえー | CSMA/CA |
| Default gateway | デフォルトゲートウェイでふぉるとげーとうぇい | 預設閘道 |
| DHCP | DHCPでぃーえいちしーぴー | DHCP |
| DNS (Domain Name System) | DNSでぃーえぬえす | DNS（網域名稱系統） |
| MAC address | MACアドレスまっくあどれす | MAC位址 |
| NAT (Network Address Translation) | NATなっと | NAT（網路位址轉譯） |
| OSI reference model | OSI参照モデルおーえすあいさんしょうもでる | OSI參考模型 |
| Port number | ポート番号ぽーとばんごう | 連接埠號碼 |
| Subnet mask | サブネットマスクさぶねっとますく | 子網路遮罩 |
| Three-way handshake | 3ウェイハンドシェイクすりーうぇいはんどしぇいく | 三向交握 |
| TLS | TLSてぃーえるえす | TLS |
| VLAN | VLANぶいらん | VLAN |
Web Technology Basics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Cookie (HTTP cookie) | Cookieくっきー | Cookie |
| CORS (cross-origin resource sharing) | CORS(オリジン間リソース共有)こーす | 跨來源資源共用（CORS） |
| DOM (Document Object Model) | DOM(Document Object Model)どむ | 文件物件模型（DOM） |
| Event loop | イベントループいべんとるーぷ | 事件迴圈 |
| HTTP (Hypertext Transfer Protocol) | HTTPえいちてぃーてぃーぴー | HTTP（超文字傳輸協定） |
| HTTP method | HTTPメソッドえいちてぃーてぃーぴーめそっど | HTTP方法 |
| HTTP status code | HTTPステータスコードえいちてぃーてぃーぴーすてーたすこーど | HTTP狀態碼 |
| JSON (JavaScript Object Notation) | JSONじぇいそん | JSON（JavaScript Object Notation） |
| JWT (JSON Web Token) | JWT(JSON Web Token)じぇいだぶりゅーてぃー | JWT（JSON Web Token） |
| OAuth | OAuthおーおーす | OAuth |
| REST API | REST APIれすとえーぴーあい | REST API |
| Reverse proxy | リバースプロキシりばーすぷろきし | 反向代理 |
| Same-origin policy | 同一オリジンポリシーどういつおりじんぽりしー | 同源政策 |
| Server-side rendering (SSR) | サーバサイドレンダリング(SSR)さーばさいどれんだりんぐ | 伺服器端算繪（SSR） |
| WebSocket | WebSocketうぇぶそけっと | WebSocket |
Wireless Communication Basics
Information Security Basics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Cross-site scripting (XSS) | クロスサイトスクリプティング(XSS)くろすさいとすくりぷてぃんぐ | 跨網站指令碼（XSS） |
| Digital signature | デジタル署名でじたるしょめい | 數位簽章 |
| Hash function | ハッシュ関数はっしゅかんすう | 雜湊函數 |
| Message authentication code | メッセージ認証コードめっせーじにんしょうこーど | 訊息鑑別碼 |
| Multi-factor authentication | 多要素認証たようそにんしょう | 多因素驗證 |
| Phishing | フィッシングふぃっしんぐ | 網路釣魚 |
| Principle of least privilege | 最小権限の原則さいしょうけんげんのげんそく | 最小權限原則 |
| Public-key cryptography | 公開鍵暗号こうかいかぎあんごう | 公開金鑰加密 |
| Ransomware | ランサムウェアらんさむうぇあ | 勒索軟體 |
| Salt | ソルトそると | 鹽值 |
| Social engineering | ソーシャルエンジニアリングそーしゃるえんじにありんぐ | 社交工程 |
| SQL injection | SQLインジェクションえすきゅーえるいんじぇくしょん | SQL隱碼攻擊 |
| Symmetric-key cryptography | 共通鍵暗号きょうつうかぎあんごう | 對稱式加密 |
| Zero-day attack | ゼロデイ攻撃ぜろでいこうげき | 零時差攻擊 |
Database Basics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| ACID properties | ACID特性あしっどとくせい | ACID特性 |
| Database index | インデックスいんでっくす | 索引 |
| Database view | ビューびゅー | 檢視表 |
| E-R diagram | E-R図いーあーるず | E-R圖 |
| Foreign key | 外部キーがいぶきー | 外鍵 |
| Isolation level | 分離レベルぶんりれべる | 隔離等級 |
| Normalization | 正規化せいきか | 正規化 |
| NoSQL | NoSQLのーえすきゅーえる | NoSQL |
| Primary key | 主キーしゅきー | 主鍵 |
| Relational database | 関係データベースかんけいでーたべーす | 關聯式資料庫 |
| SQL | SQLえすきゅーえる | SQL |
| Third normal form (3NF) | 第3正規形だいさんせいきけい | 第三正規化（3NF） |
| Transaction | トランザクションとらんざくしょん | 交易 |
| Two-phase locking (2PL) | 2相ロックにそうろっく | 兩階段鎖定（2PL） |
Data Structures and Algorithms
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Binary heap | 二分ヒープにぶんひーぷ | 二元堆積 |
| Binary search | 二分探索にぶんたんさく | 二分搜尋 |
| Binary search tree | 二分探索木にぶんたんさくぎ | 二元搜尋樹 |
| Breadth-first search | 幅優先探索はばゆうせんたんさく | 廣度優先搜尋 |
| Depth-first search | 深さ優先探索ふかさゆうせんたんさく | 深度優先搜尋 |
| Dijkstra's algorithm | ダイクストラ法だいくすとらほう | 戴克斯特拉演算法 |
| Dynamic programming | 動的計画法どうてきけいかくほう | 動態規劃 |
| Greedy algorithm | 貪欲法どんよくほう | 貪婪演算法 |
| Hash table | ハッシュテーブルはっしゅてーぶる | 雜湊表 |
| Linked list | 連結リストれんけつりすと | 鏈結串列 |
| Queue | キューきゅー | 佇列 |
| Recursion | 再帰さいき | 遞迴 |
| Stable sort | 安定ソートあんていそーと | 穩定排序 |
| Stack | スタックすたっく | 堆疊 |
| Time complexity (Big-O notation) | 計算量けいさんりょう | 時間複雜度（大O符號） |
Programming Basics (Pseudocode Tracing)
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Argument | 引数ひきすう | 引數 |
| Array | 配列はいれつ | 陣列 |
| Bitwise operation | ビット演算びっとえんざん | 位元運算 |
| Control structure | 制御構造せいぎょこうぞう | 控制結構 |
| Integer division | 整数除算せいすうじょざん | 整數除法 |
| Modulo operation | 剰余演算じょうよえんざん | 取餘運算 |
| Object-oriented programming | オブジェクト指向おぶじぇくとしこう | 物件導向 |
| Off-by-one error | オフバイワンエラーおふばいわんえらー | 差一錯誤 |
| Pseudocode | 擬似言語ぎじげんご | 虛擬碼 |
| Return value | 戻り値もどりち | 回傳值 |
| Rounding error | 丸め誤差まるめごさ | 捨入誤差 |
| Short-circuit evaluation | 短絡評価たんらくひょうか | 短路求值 |
| Trace table | トレース表とれーすひょう | 追蹤表 |
| Variable | 変数へんすう | 變數 |
C Programming Basics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Alignment and padding | アライメントとパディングあらいめんとぱでぃんぐ | 對齊與填充 |
| Bit-field | ビットフィールドびっとふぃーるど | 位元欄位（bit-field） |
| Buffer overflow | バッファオーバーフローばっふぁおーばーふろー | 緩衝區溢位 |
| Dangling pointer | ダングリングポインタだんぐりんぐぽいんた | 懸置指標 |
| Dynamic memory allocation | 動的メモリ確保どうてきめもりかくほ | 動態記憶體配置 |
| Function pointer | 関数ポインタかんすうぽいんた | 函式指標 |
| Integer promotion | 整数拡張せいすうかくちょう | 整數提升 |
| Macro (#define) | マクロまくろ | 巨集（macro） |
| Memory leak | メモリリークめもりりーく | 記憶體洩漏 |
| Pointer | ポインタぽいんた | 指標（pointer） |
| Preprocessor | プリプロセッサぷりぷろせっさ | 前置處理器 |
| struct (C structure) | 構造体こうぞうたい | 結構（struct） |
| Undefined behavior | 未定義動作みていぎどうさ | 未定義行為 |
| union (C union type) | 共用体きょうようたい | 聯合（union） |
| volatile (type qualifier) | volatile(型修飾子)ぼらたいる | volatile（型別修飾詞） |
Software Development and Project Management
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Agile development | アジャイル開発あじゃいるかいはつ | 敏捷開發 |
| Black-box testing | ブラックボックステストぶらっくぼっくすてすと | 黑箱測試 |
| Boundary value analysis | 境界値分析きょうかいちぶんせき | 邊界值分析 |
| Branch coverage | 分岐網羅ぶんきもうら | 分支涵蓋率 |
| CI/CD (continuous integration and continuous delivery) | CI/CD(継続的インテグレーション・継続的デリバリー)しーあいしーでぃー | CI/CD（持續整合與持續交付） |
| Critical path method (CPM) | クリティカルパス法(CPM)くりてぃかるぱすほう | 要徑法（CPM） |
| Earned value management (EVM) | アーンドバリューマネジメント(EVM)あーんどばりゅーまねじめんと | 實獲值管理（EVM） |
| Equivalence partitioning | 同値分割どうちぶんかつ | 等價類劃分 |
| Scrum | スクラムすくらむ | Scrum |
| SLA (service level agreement) | SLA(サービスレベル合意)えすえるえー | SLA（服務水準協議） |
| Test-driven development (TDD) | テスト駆動開発(TDD)てすとくどうかいはつ | 測試驅動開發（TDD） |
| V-model | V字モデルぶいじもでる | V 模型 |
| Waterfall model | ウォーターフォールモデルうぉーたーふぉーるもでる | 瀑布式模型 |
| WBS (work breakdown structure) | WBS(作業分解構成図)だぶりゅーびーえす | 工作分解結構（WBS） |
| White-box testing | ホワイトボックステストほわいとぼっくすてすと | 白箱測試 |
Business Strategy and Accounting Basics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| ABC analysis | ABC分析えーびーしーぶんせき | ABC 分析 |
| Break-even point | 損益分岐点そんえきぶんきてん | 損益兩平點 |
| Contribution margin | 限界利益げんかいりえき | 邊際貢獻 |
| Depreciation | 減価償却げんかしょうきゃく | 折舊 |
| Five forces analysis | ファイブフォース分析ふぁいぶふぉーすぶんせき | 五力分析 |
| Fixed cost | 固定費こていひ | 固定成本 |
| Income statement (P/L) | 損益計算書(P/L)そんえきけいさんしょ | 損益表（P/L） |
| Net present value (NPV) | 正味現在価値(NPV)しょうみげんざいかち | 淨現值（NPV） |
| Patent | 特許とっきょ | 專利 |
| Product life cycle | プロダクトライフサイクルぷろだくとらいふさいくる | 產品生命週期 |
| Product portfolio management (PPM) | プロダクトポートフォリオマネジメント(PPM)ぷろだくとぽーとふぉりおまねじめんと | 產品組合管理（PPM） |
| ROE (return on equity) | ROE(自己資本利益率)あーるおーいー | 股東權益報酬率（ROE） |
| SWOT analysis | SWOT分析すうぉっとぶんせき | SWOT 分析 |
| Value chain | バリューチェーンばりゅーちぇーん | 價值鏈 |
| Variable cost | 変動費へんどうひ | 變動成本 |
IT Service Management and Systems Audit
System Architecture and Reliability
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Differential backup | 差分バックアップさぶんばっくあっぷ | 差異備份 |
| Dual system | デュアルシステムでゅあるしすてむ | 雙重系統（Dual system） |
| Duplex system | デュプレックスシステムでゅぷれっくすしすてむ | 雙工系統（Duplex system） |
| Fail-safe | フェールセーフふぇーるせーふ | 失效安全（Fail-safe） |
| Fail-soft | フェールソフトふぇーるそふと | 失效弱化（Fail-soft） |
| Fault tolerance | フォールトトレランスふぉーるととれらんす | 容錯（Fault tolerance） |
| Fool-proof | フールプルーフふーるぷるーふ | 防呆（Fool-proof） |
| Hot standby | ホットスタンバイほっとすたんばい | 熱備援（Hot standby） |
| Incremental backup | 増分バックアップぞうぶんばっくあっぷ | 增量備份 |
| Load balancer | ロードバランサろーどばらんさ | 負載平衡器（Load balancer） |
| RAID | RAIDれいど | 磁碟陣列（RAID） |
| RPO (recovery point objective) | RPO(目標復旧時点)あーるぴーおー | RPO（復原點目標） |
| RTO (recovery time objective) | RTO(目標復旧時間)あーるてぃーおー | RTO（復原時間目標） |
| Scale-out | スケールアウトすけーるあうと | 水平擴展（Scale-out） |
| Single point of failure (SPOF) | 単一障害点(SPOF)たんいつしょうがいてん | 單一故障點（SPOF） |
Cloud and Container Basics
| English | Japanese | Chinese (Traditional) |
|---|---|---|
| Autoscaling | オートスケーリングおーとすけーりんぐ | 自動擴展 |
| Availability zone | アベイラビリティゾーンあべいらびりてぃぞーん | 可用區域 |
| Blue-green deployment | ブルーグリーンデプロイメントぶるーぐりーんでぷろいめんと | 藍綠部署 |
| Canary release | カナリアリリースかなりありりーす | 金絲雀部署 |
| Container | コンテナこんてな | 容器技術 |
| Container image | コンテナイメージこんてないめーじ | 容器映像檔 |
| Docker | Dockerどっかー | Docker |
| Immutable infrastructure | イミュータブルインフラストラクチャいみゅーたぶるいんふらすとらくちゃ | 不可變基礎設施 |
| Infrastructure as code (IaC) | IaC(Infrastructure as Code)あいえーしー | 基礎設施即程式碼（IaC） |
| Kubernetes | Kubernetesくばねてぃす | Kubernetes |
| Object storage | オブジェクトストレージおぶじぇくとすとれーじ | 物件儲存 |
| Observability | オブザーバビリティおぶざーばびりてぃ | 可觀測性 |
| Pod | Podぽっど | Pod |
| Serverless computing | サーバーレスさーばーれす | 無伺服器運算 |
| Shared responsibility model | 責任共有モデルせきにんきょうゆうもでる | 共同責任模型 |
Performance Analysis
Hardware Security
Power Management
Test yourself with a translation quiz
Ten questions drawn from the terms on this page, with look-alike terms from the same field as distractors.
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