什麼是DFT(可測試性設計)
預先在電路中內建掃描鏈與BIST等有助於測試之機制的設計方法。
日文名稱: DFT(テスト容易化設計)
「DFT(可測試性設計)」出現在3領域的4道練習題中（測試與檢查, LSI設計流程與EDA, 環境安全等）。
這個名詞所屬的領域: 測試與檢查
練習DFT(可測試性設計)的題目
關於可測試性設計（DFT）之一的掃描設計，下列說明何者正確？
- A以光學顯微鏡掃描晶片表面來尋找缺陷
- B測試時逐漸提高電源電壓，以調查運作極限
- C將電路內的正反器連接成位移暫存器的形式，使內部狀態的設定與觀測變得容易
可測試性設計所要提高的兩項性質，其組合下列何者正確？
- A速度與面積
- B可控制性與可觀測性
- C顏色與形狀
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正確答案：B. 可控制性與可觀測性
可控制性是指容易從外部將電路內部的訊號設定為所希望的值，可觀測性則是指容易從外部觀測內部訊號的值。要偵測故障，必須將該處設為與故障相反的值（控制），並將結果的差異傳遞到輸出（觀測）。掃描設計或插入測試點等DFT，就是提高這兩者，使得以較少的圖樣即可偵測故障。
解析中的「DFT(可測試性設計)」
掃描設計或插入測試點等DFT，就是提高這兩者，使得以較少的圖樣即可偵測故障。
可測試性設計所要提高的兩項性質，其組合下列何者正確？DFT是讓測試更容易的設計，CTS則是用於分配時脈的手法。
為了不易受製造變異或缺陷的影響，而在佈局等方面下工夫的設計理念為下列何者？SPC是品質管理，DFT則是可測試性設計的手法。
在開始作業之前，討論該作業潛藏的危險並確認對策的活動，稱為什麼？
出現「DFT(可測試性設計)」的題目（4題）
相關名詞
正反器 循序電路 組合電路 ATPG(自動測試向量產生) 故障涵蓋率 良率 SPC(統計製程管制) 固定型故障 掃描測試 探針卡