對晶片施加測試向量並量測輸出,自動判定良否的設備。也稱為測試機。
日文名稱: ATE(自動試験装置)
這個名詞所屬的領域: 測試與檢查
固定型故障 故障涵蓋率 掃描測試 探針卡 晶圓測試(探針測試) 預燒測試(Burn-in) ATPG(自動測試向量產生) BIST(內建自我測試) DFT(可測試性設計) IDDQ測試
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