BIST(組み込み自己テスト)とは
びすと
テスト用の回路をチップ内に組み込み、チップ自身でテストパターンの生成と結果の判定を行う仕組み。メモリのテストなどで広く使われる。
この用語の分野: テスト・検査
解説の中の「BIST(組み込み自己テスト)」
BISTは、テストパターンの生成回路や結果の判定回路をチップに内蔵し、チップ自身でテストを実行する仕組みです。
BIST(組み込み自己テスト)の説明として正しいものはどれか。XORとフリップフロップだけで作れるため、内蔵テスト(BIST)のパターン生成と結果の圧縮、イーサネットなどのCRC計算、信号を平均化して電磁ノイズを減らすスクランブラに使われます。
シフトレジスタの一部の出力のXORを入力に戻す線形帰還シフトレジスタ(LFSR)の代表的な用途はどれか。
「BIST(組み込み自己テスト)」が出てくる問題(2問)
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