什麼是晶圓測試(探針測試)
在切割之前，將探針接觸晶圓上各晶片的電極，檢查電氣特性的步驟。可在組裝前找出不良晶片，避免無謂的組裝。
日文名稱: ウエハテスト(プローブテスト)
這個名詞所屬的領域: 測試與檢查
相關名詞
固定型故障 故障涵蓋率 掃描測試 探針卡 預燒測試(Burn-in) ATE(自動測試設備) ATPG(自動測試向量產生) BIST(內建自我測試) DFT(可測試性設計) IDDQ測試
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