什麼是阿瑞尼斯模型
假設反應或劣化的速度隨溫度以exp(−Ea/kT)變化的模型。用於從提高溫度的加速試驗結果，推估實際使用溫度下的壽命。
日文名稱: アレニウスモデル
「阿瑞尼斯模型」出現在1領域的1道練習題中（SRAM與快閃記憶體等）。
這個名詞所屬的領域: 可靠度
練習阿瑞尼斯模型的題目
快閃記憶體的資料保存（retention）特性容易變差的條件為何？
- A在低溫下保存時
- B在暗處保存時
- C在高溫下保存時
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正確答案：C. 在高溫下保存時
儲存的電子在溫度越高時獲得越多熱能，越容易穿過絕緣膜，因此在高溫下保存會縮短資料保存期間。利用此特性，會進行在高溫下保存、以短時間估算長期保存的加速試驗（阿瑞尼斯模型）。若因反覆改寫而使氧化膜劣化，保存特性會更差，因此使用已久的 SSD 最好避免長時間不通電放置。
解析中的「阿瑞尼斯模型」
利用此特性，會進行在高溫下保存、以短時間估算長期保存的加速試驗（阿瑞尼斯模型）。
快閃記憶體的資料保存（retention）特性容易變差的條件為何？
出現「阿瑞尼斯模型」的題目（1題）
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