什麼是探針卡
在晶圓狀態下，將多根探針接觸晶片電極，使其與測試機電性連接的治具。
日文名稱: プローブカード
這個名詞所屬的領域: 測試與檢查
相關名詞
固定型故障 故障涵蓋率 掃描測試 晶圓測試(探針測試) 預燒測試(Burn-in) ATE(自動測試設備) ATPG(自動測試向量產生) BIST(內建自我測試) DFT(可測試性設計) IDDQ測試
在晶圓狀態下，將多根探針接觸晶片電極，使其與測試機電性連接的治具。
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