什麼是TSV(矽穿孔)

貫穿矽基板的電極。以很短的距離將堆疊的晶片上下互相連接。

日文名稱: TSV(シリコン貫通電極)

「TSV(矽穿孔)」出現在2領域的2道練習題中(先進電晶體(FinFET與GAA), 矽晶圓等)。

這個名詞所屬的領域: 先進技術(3D構裝與小晶片)

練習TSV(矽穿孔)的題目

將電晶體的層依序堆疊在晶圓上製作、而非靠貼合晶片的三維整合方式是哪一個?

  1. A2.5D 封裝
  2. B單晶 3D 整合(循序 3D 整合)
  3. CSiP
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正確答案:B. 單晶 3D 整合(循序 3D 整合)

在單晶 3D 整合中,製作完第一層電晶體後,在其上形成新的半導體層或將其薄薄貼合,再製作第二層電晶體。層間可以用導孔(via)的大小(數十 nm)連接,比以 TSV 堆疊晶片的連接密度高出一萬倍以上。不過,為了避免製作上層時的熱損傷下層或配線,需要約 500 ℃ 以下的低溫製程。CFET 也屬於這種方式。

300 mm矽晶圓的標準厚度,最接近下列哪一項?

  1. A約5 mm
  2. B約100 µm
  3. C約775 µm
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正確答案:C. 約775 µm

300 mm晶圓的標準厚度約為775 µm。口徑越大,為了防止因自重造成的彎曲與搬運中的破裂,厚度也越厚(150 mm約675 µm,200 mm約725 µm)。元件所需要的只有表面的數µm,但為了讓晶圓能通過各製程,需要有足夠的厚度來維持強度。完成後,為了封裝薄型化、散熱以及TSV,有時會研削背面薄化至數十µm。

解析中的「TSV(矽穿孔)」

出現「TSV(矽穿孔)」的題目(2題)

  1. 將電晶體的層依序堆疊在晶圓上製作、而非靠貼合晶片的三維整合方式是哪一個?
  2. 300 mm矽晶圓的標準厚度,最接近下列哪一項?

出現這個名詞的比較

相關名詞

CFET(互補式場效電晶體) 2.5D封裝 3D封裝 小晶片(Chiplet) 矽中介層 重佈線層(RDL) 混合鍵合 微凸塊 CoWoS HBM(高頻寬記憶體)

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