界面準位とは
かいめんじゅんい
半導体と絶縁膜の界面に、結合の切れた原子などによってできる禁制帯中のエネルギー準位。キャリアを捕まえたり放したりして、しきい値電圧の変動や移動度の低下、雑音の原因になる。
この用語の分野: 酸化・拡散
かいめんじゅんい
半導体と絶縁膜の界面に、結合の切れた原子などによってできる禁制帯中のエネルギー準位。キャリアを捕まえたり放したりして、しきい値電圧の変動や移動度の低下、雑音の原因になる。
この用語の分野: 酸化・拡散
Si/SiO2界面には、結合の切れたシリコン原子(ダングリングボンド)による界面準位が10¹¹〜10¹² cm⁻²eV⁻¹程度残ります。
Si/SiO2界面の界面準位を減らすために行われる、水素を含む雰囲気での熱処理を何と呼ぶか。結晶面によって原子の並び方が異なるため、MOSFETには界面準位の少ない(100)面のウエハが主に使われます。
シリコン単結晶の結晶構造はどれか。ドレイン近くでは電界が強く、高いエネルギーをもったホットキャリアがゲート絶縁膜に注入されたり界面準位を作ったりして、しきい値電圧の変化や電流低下を引き起こします。
MOSFETのLDD(Lightly Doped Drain)構造の目的として正しいものはどれか。しきい値電圧 移動度 LDD構造 暗電流 フォトダイオード CMOS 熱酸化 GaAs(ガリウムヒ素) 短チャネル効果 埋め込みフォトダイオード(ピンドフォトダイオード)