NBTIとは

解説の中の「NBTI」

• DIBLはドレイン電圧によるしきい値の低下、NBTIはpMOSの劣化です。

  ゲートとドレインが重なる部分の強い電界によってバンド間トンネル電流が流れ、オフ時のリーク電流が増える現象はどれか。

• NBTI(Negative Bias Temperature Instability)は、pMOSに負のゲートバイアスと高温が加わることで、界面準位や絶縁膜中の電荷が増え、しきい値電圧の絶対値が大きくなる劣化です。

  pMOSトランジスタに負のゲート電圧と高温が加わり続けると、しきい値電圧の絶対値が徐々に増加していく劣化現象はどれか。

• pMOSで起こるNBTIと対になる現象です。

  High-k/メタルゲートのnMOSトランジスタで、ゲートに正の電圧と高温が加わり続けるとしきい値電圧が変化していく劣…

「NBTI」が出てくる問題(3問)

1. ゲートとドレインが重なる部分の強い電界によってバンド間トンネル電流が流れ、オフ時のリーク電流が増える現象はどれか。
2. pMOSトランジスタに負のゲート電圧と高温が加わり続けると、しきい値電圧の絶対値が徐々に増加していく劣化現象はどれか。
3. High-k/メタルゲートのnMOSトランジスタで、ゲートに正の電圧と高温が加わり続けるとしきい値電圧が変化していく劣化を何と呼ぶか。

関連する用語

しきい値電圧 GIDL(ゲート誘起ドレインリーク) DIBL 界面準位 High-k/メタルゲート アレニウスモデル ESD(静電気放電) MTTF(平均故障時間) エレクトロマイグレーション ソフトエラー