IDDQテストとは
あいでぃーでぃーきゅーてすと
CMOS回路が静止しているときの電源電流を測り、異常に大きい場合にブリッジ故障などの欠陥があると判定するテスト。
この用語の分野: テスト・検査
関連する用語
ウエハテスト(プローブテスト) ATE(自動試験装置) ATPG(自動テストパターン生成) KGD(ノウングッドダイ) 故障検出率(フォールトカバレッジ) 縮退故障 スキャンテスト DFT(テスト容易化設計) バーンイン BIST(組み込み自己テスト)
あいでぃーでぃーきゅーてすと
CMOS回路が静止しているときの電源電流を測り、異常に大きい場合にブリッジ故障などの欠陥があると判定するテスト。
この用語の分野: テスト・検査
ウエハテスト(プローブテスト) ATE(自動試験装置) ATPG(自動テストパターン生成) KGD(ノウングッドダイ) 故障検出率(フォールトカバレッジ) 縮退故障 スキャンテスト DFT(テスト容易化設計) バーンイン BIST(組み込み自己テスト)