什麼是帕松良率模型
假設缺陷隨機分布，以Y = exp(−D×A)（D為缺陷密度，A為晶片面積）表示良率的模型。
日文名稱: ポアソン歩留まりモデル
這個名詞所屬的領域: 良率與品質管理
相關名詞
系統性缺陷 良率 柏拉圖 致命缺陷 特性要因圖 管制圖 製程能力指數(Cpk) APC(先進製程控制) FMEA(失效模式與效應分析) SPC(統計製程管制)
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