什麼是固定型故障
邏輯電路測試的基本故障模型，假設訊號線的值被固定在0或1。也稱為Stuck-at故障。
日文名稱: 縮退故障
「固定型故障」出現在1領域的5道練習題中（測試與檢查等）。
這個名詞所屬的領域: 測試與檢查
練習固定型故障的題目
關於邏輯電路測試中使用的固定型故障（stuck-at fault）模型，下列說明何者正確？
- A訊號傳遞變慢的故障
- B訊號線的值被固定為0或1的故障
- C晶片溫度上升的故障
在邏輯電路的測試中，使用掃描等方式全面偵測電路結構上的故障（固定型故障等）的測試，與依實際運作確認功能的測試，其名稱的組合下列何者正確？
- ADC測試與AC測試
- B晶圓測試與burn-in
- C結構性測試（structural test）與功能性測試（functional test）
查看答案與解析
正確答案：C. 結構性測試（structural test）與功能性測試（functional test）
結構性測試是針對電路的結構建立故障模型，使用掃描等方式有效率地偵測各部分故障的測試，可以數值管理故障涵蓋率。功能性測試則是施加接近實際使用方式的輸入，確認是否依規格運作的測試。前者擅長全面性，後者擅長在接近實際使用的條件下確認，兩者搭配以確保品質。
解析中的「固定型故障」
固定型故障模型假設電路內的某條訊號線永遠固定為0（stuck-at-0）或永遠固定為1（stuck-at-1），若訊號線有n條，則考慮2n個故障。
關於邏輯電路測試中使用的固定型故障（stuck-at fault）模型，下列說明何者正確？ATPG是依據固定型故障等故障模型，從網表自動產生能將各故障傳遞到輸出而加以偵測的輸入圖樣的技術。
從電路的網表（netlist）自動產生用來偵測故障的測試圖樣，稱為什麼？具代表性的March C−每個單元進行10次操作，除了固定型故障之外，也能偵測相鄰單元之間的干擾（耦合故障）以及位址解碼器的不良。
在記憶體測試中，一邊依序走訪位址，一邊反覆寫入與讀出0和1，也能偵測相鄰單元之間干擾等不良的測試圖樣為下列何者？以往的固定型故障等模型，只注意單元的輸入輸出端子。
根據標準單元（standard cell）的電路，將單元內部電晶體的短路或開路等缺陷建立模型並產生測試圖樣的手法為下列…
出現「固定型故障」的題目（5題）
相關名詞
故障涵蓋率 ATPG(自動測試向量產生) 網表 DRC(設計規則檢查) 解碼器 掃描測試 探針卡 晶圓測試(探針測試) 預燒測試(Burn-in) ATE(自動測試設備)