什麼是IDDQ測試
量測CMOS電路靜止時的電源電流，若異常偏大，則判定存在橋接故障等缺陷的測試。
日文名稱: IDDQテスト
這個名詞所屬的領域: 測試與檢查
相關名詞
固定型故障 故障涵蓋率 掃描測試 探針卡 晶圓測試(探針測試) 預燒測試(Burn-in) ATE(自動測試設備) ATPG(自動測試向量產生) BIST(內建自我測試) DFT(可測試性設計)
量測CMOS電路靜止時的電源電流，若異常偏大，則判定存在橋接故障等缺陷的測試。
日文名稱: IDDQテスト
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