什麼是HAST(高加速應力試驗)
在超過 100 ℃ 的溫度與高濕度的加壓水蒸氣中施加偏壓，於短時間內評估耐濕性的試驗。例如 130 ℃・85%RH 下 96 小時，被視為相當於 85 ℃・85%RH 下 1000 小時高溫高濕偏壓試驗(THB)的評估。
日文名稱: HAST(高度加速ストレス試験)
「HAST(高加速應力試驗)」出現在2領域的4道練習題中（可靠度, 車用半導體與功能安全等）。
這個名詞所屬的領域: 車用半導體與功能安全
練習HAST(高加速應力試驗)的題目
在車用IC的認證試驗中，有時會以HAST（在約130 ℃、85%RH的加壓水蒸氣中施加偏壓的試驗）取代在85 ℃、85%RH下進行1000小時的高溫高濕偏壓試驗（THB），其主要理由是下列何者？
- A能加速濕氣侵入造成的腐蝕等故障，將需要1000小時的試驗縮短為100小時左右
- B變得能評估宇宙射線造成的軟錯誤，而非水分造成的故障
- C提高溫度會使濕氣散去，因此能評估乾燥狀態下的壽命
高溫高濕偏壓試驗（THB或HAST）主要評估的是下列何種故障？
- A宇宙射線造成的軟錯誤
- B時脈延遲
- C因水分侵入而造成的電極腐蝕或漏電流增加
解析中的「HAST(高加速應力試驗)」
HAST（Highly Accelerated Stress Test）是在超過100 ℃的溫度下加壓，並維持高濕度進行試驗的方法。
在車用IC的認證試驗中，有時會以HAST（在約130 ℃、85%RH的加壓水蒸氣中施加偏壓的試驗）取代在85 ℃、85…THB是在85 ℃/85%RH下進行約1000小時，HAST則是在130 ℃前後的加壓水蒸氣中加速水分的侵入，以約100小時左右的短時間評估耐濕性。
高溫高濕偏壓試驗（THB或HAST）主要評估的是下列何種故障？TDDB、NBTI是經時劣化，HTOL、HAST則是壽命的加速試驗。
在評估ESD（靜電放電）耐受性的試驗模型中，「帶電的人觸碰IC端子時的放電」與「IC本身帶電而端子接觸金屬時的放電」，…它被用來將85 ℃/85%RH或HAST等加速試驗的結果，換算成實際溫度、濕度環境下的壽命。
由高溫高濕試驗結果推估實際使用壽命時，以相對濕度的冪次方表示濕度影響的常用模型是下列何者？
出現「HAST(高加速應力試驗)」的題目（4題）
相關名詞
軟錯誤 ESD(靜電放電) HBM(高頻寬記憶體) TDDB(經時介電崩潰) NBTI(負偏壓溫度不穩定性) 安全目標 安全機制 區域架構(Zonal architecture) 診斷覆蓋率 零缺陷