在pMOS閘極施加負電壓且溫度較高時,臨界電壓的絕對值逐漸變大的劣化現象。
日文名稱: NBTI
這個名詞所屬的領域: 可靠度
阿瑞尼斯模型 閂鎖效應 韋伯分布 浴缸曲線 軟錯誤 電遷移 熱載子注入(HCI) ESD(靜電放電) FIT(失效率單位) MTTF(平均失效時間)
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