スキャンテストとは

すきゃんてすと

回路の中のフリップフロップを鎖状につないだスキャンチェーンを使い、内部の状態を設定・観測してテストする方法。

この用語の分野: テスト・検査

解説の中の「スキャンテスト」

「スキャンテスト」が出てくる問題(3問)

  1. スキャンテストのデータ量とテスト時間を減らすため、チップ内でテストパターンを展開し、応答を圧縮する技術を何と呼ぶか。
  2. スキャンテストで出力を圧縮するとき、シミュレーションで値が0か1か決まらない信号(不定値X)を取り除く処理が必要になる理由はどれか。
  3. スキャンテストで不良になったチップについて、どの出力のどのパターンで不一致が出たかの情報から、故障していそうな場所の候補を論理的に絞り込む処理を何と呼ぶか。

関連する用語

歩留まり IDDQテスト ウエハテスト(プローブテスト) ATE(自動試験装置) ATPG(自動テストパターン生成) KGD(ノウングッドダイ) 故障検出率(フォールトカバレッジ) 縮退故障 DFT(テスト容易化設計) バーンイン

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