什麼是熱氧化
在氧氣或水蒸氣中加熱矽,使其表面形成SiO2薄膜的方法。有乾式氧化與濕式氧化兩種。
日文名稱: 熱酸化
「熱氧化」出現在2領域的24道練習題中(氧化與擴散, 矽晶圓等)。
這個名詞所屬的領域: 氧化與擴散
在氧氣或水蒸氣中加熱矽,使其表面形成SiO2薄膜的方法。有乾式氧化與濕式氧化兩種。
日文名稱: 熱酸化
「熱氧化」出現在2領域的24道練習題中(氧化與擴散, 矽晶圓等)。
這個名詞所屬的領域: 氧化與擴散
正確答案:A. 約 0.44x
熱氧化是矽本身與氧反應變成 SiO2。由矽的原子密度(約 5.0×10²² cm⁻³)與 SiO2 的分子密度(約 2.3×10²² cm⁻³)之比可知,形成厚度 x 的氧化層所消耗的矽約為 0.44x。氧化層約 44% 位於原始表面之下,56% 向上成長,體積膨脹約 2.2 倍。因此氧化的部分會形成階差,而介面總是新的潔淨表面。
熱氧化是矽本身與氧反應變成 SiO2。
將矽熱氧化形成厚度為 x 的 SiO2 薄膜時,被消耗的矽厚度約為多少?熱氧化、擴散與退火常使用直立式熱處理爐:將約 100 片晶圓垂直堆疊在石英反應管中加熱。
要一次對大量晶圓進行熱氧化時,通常使用何種設備?熱氧化層(SiO2)的相對介電常數約為 3.9,是比較閘極絕緣膜性能的 EOT(等效氧化層厚度)之基準。
與熱氧化形成的 SiO2 薄膜相對介電常數最接近的值為何?優質熱氧化層的介電崩潰電場約為 10 MV/cm,若厚度為 10 nm,計算上約在 10 V 時崩潰。
優質熱氧化層(SiO2)的介電崩潰電場的大致標準,下列何者正確?熱氧化層緻密且缺陷少,因此在稀氫氟酸(例如 1%)中的蝕刻速率很慢,每分鐘僅數 nm 左右。
以相同的稀氫氟酸蝕刻時,熱氧化層與以 CVD 成膜的氧化層,其蝕刻速率的一般關係為何?乾式氧化 濕式氧化 自由基 疊差 退火 FinFET(鰭式場效電晶體) 離子佈植 臨界電壓 STI(淺溝槽隔離) RTP(快速熱處理)