什麼是BIST(內建自我測試)
將測試用電路內建於晶片中，由晶片自行產生測試向量並判定結果的機制。廣泛用於記憶體測試等。
日文名稱: BIST(組み込み自己テスト)
「BIST(內建自我測試)」出現在1領域的1道練習題中（邏輯電路等）。
這個名詞所屬的領域: 測試與檢查
練習BIST(內建自我測試)的題目
將移位暫存器部分輸出的XOR送回輸入的線性回授移位暫存器（LFSR），其代表性用途是哪一個？
- A產生偽隨機圖樣，以及測試中的圖樣產生、CRC計算
- B精確計時
- C放大類比訊號
解析中的「BIST(內建自我測試)」
由於只需XOR與正反器即可製作，用於內建自我測試（BIST）的圖樣產生與結果壓縮、乙太網路等的CRC計算，以及將訊號平均化以減少電磁雜訊的拌碼器。
將移位暫存器部分輸出的XOR送回輸入的線性回授移位暫存器（LFSR），其代表性用途是哪一個？
出現「BIST(內建自我測試)」的題目（1題）
相關名詞
移位暫存器 正反器 固定型故障 故障涵蓋率 掃描測試 探針卡 晶圓測試(探針測試) 預燒測試(Burn-in) ATE(自動測試設備) ATPG(自動測試向量產生)