HAST(高度加速ストレス試験)とは
はすと
100 ℃を超える温度と高い湿度の加圧した水蒸気中でバイアスをかけ、耐湿性を短時間で評価する試験。例えば130 ℃・85%RHの96時間で、85 ℃・85%RHで1000時間の高温高湿バイアス試験(THB)に相当する評価とされる。
「HAST(高度加速ストレス試験)」は、2分野の4問の練習問題に出てきます(信頼性, 車載半導体と機能安全など)。
この用語の分野: 車載半導体と機能安全
はすと
100 ℃を超える温度と高い湿度の加圧した水蒸気中でバイアスをかけ、耐湿性を短時間で評価する試験。例えば130 ℃・85%RHの96時間で、85 ℃・85%RHで1000時間の高温高湿バイアス試験(THB)に相当する評価とされる。
「HAST(高度加速ストレス試験)」は、2分野の4問の練習問題に出てきます(信頼性, 車載半導体と機能安全など)。
この用語の分野: 車載半導体と機能安全
HAST(Highly Accelerated Stress Test)は、100 ℃を超える温度で圧力を加え、高い湿度を保ったまま試験する方法です。
車載用ICの認定試験で、85 ℃・85%RHで1000時間行う高温高湿バイアス試験(THB)の代わりに、HAST(13…THBは85 ℃/85%RHで1000時間程度、HASTは130 ℃前後の加圧した水蒸気で水分の侵入を加速し、約100時間程度の短い時間で耐湿性を評価します。
高温高湿バイアス試験(THBやHAST)で主に評価する故障はどれか。TDDB・NBTIは経時劣化、HTOL・HASTは寿命の加速試験です。
ESD(静電気放電)の耐性を評価する試験モデルで、「帯電した人がICの端子に触れたときの放電」と「IC自体が帯電してい…85 ℃/85%RHやHASTなどの加速試験の結果を、実際の温度・湿度の環境での寿命に換算するのに使われます。
高温高湿試験の結果から実使用の寿命を推定するとき、湿度の影響を相対湿度のべき乗で表すモデルとしてよく使われるものはどれ…Amazonの検索結果へのリンクです。Amazonのアソシエイトとして、半導体教室は適格販売により収入を得ています。
ソフトエラー ESD(静電気放電) HBM TDDB(経時絶縁破壊) NBTI ISO 26262 安全機構 安全目標 ECU(電子制御ユニット) AEC-Q100