DFT(テスト容易化設計)とは
てすとよういかせっけい
スキャンチェーンやBISTなど、テストしやすくする仕組みをあらかじめ回路に組み込む設計手法。
この用語の分野: テスト・検査
解説の中の「DFT(テスト容易化設計)」
スキャン設計などのDFTは、この2つを高めて、内部の故障を少ないテストパターンで検出できるようにします。
テスト容易化設計で高めることを目指す2つの性質の組み合わせとして正しいものはどれか。
「DFT(テスト容易化設計)」が出てくる問題(2問)
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