欠陥検査装置とは
けっかんけんさそうち
ウエハ上の異物やパターンの欠陥を見つける装置。光を当てたときの散乱光を検出する方式や、隣り合うダイの画像を比較する方式などがある。
この用語の分野: 計測・分析
けっかんけんさそうち
ウエハ上の異物やパターンの欠陥を見つける装置。光を当てたときの散乱光を検出する方式や、隣り合うダイの画像を比較する方式などがある。
この用語の分野: 計測・分析
欠陥検査装置は多数の欠陥を検出しますが、それぞれの原因を調べるには種類の分類が必要です。
検査で見つかった欠陥をSEMで撮影し、その画像から欠陥の種類を自動で分類する機能はどれか。SEM(走査電子顕微鏡) EDX(エネルギー分散型X線分光) AFM(原子間力顕微鏡) XRD(X線回折) XPS(X線光電子分光法) FIB(集束イオンビーム) エリプソメトリ CD-SEM TEM(透過電子顕微鏡) TXRF(全反射蛍光X線分析)