欠陥検査装置とは

けっかんけんさそうち

ウエハ上の異物やパターンの欠陥を見つける装置。光を当てたときの散乱光を検出する方式や、隣り合うダイの画像を比較する方式などがある。

この用語の分野: 計測・分析

解説の中の「欠陥検査装置」

「欠陥検査装置」が出てくる問題(3問)

  1. ウエハ上の異物やパターン欠陥を検出する欠陥検査装置で使われる代表的な原理はどれか。
  2. ウエハの欠陥検査装置で、パターンの像を直接見る明視野方式と比べた、散乱光だけを捉える暗視野方式の特徴として正しいものはどれか。
  3. 検査で見つかった欠陥をSEMで撮影し、その画像から欠陥の種類を自動で分類する機能はどれか。

関連する用語

SEM(走査電子顕微鏡) EDX(エネルギー分散型X線分光) AFM(原子間力顕微鏡) XRD(X線回折) XPS(X線光電子分光法) FIB(集束イオンビーム) エリプソメトリ CD-SEM TEM(透過電子顕微鏡) TXRF(全反射蛍光X線分析)

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