什麼是掃描測試
利用將電路中的正反器串成鏈狀所形成的掃描鏈，設定並觀測內部狀態以進行測試的方法。
日文名稱: スキャンテスト
這個名詞所屬的領域: 測試與檢查
相關名詞
固定型故障 故障涵蓋率 探針卡 晶圓測試(探針測試) 預燒測試(Burn-in) ATE(自動測試設備) ATPG(自動測試向量產生) BIST(內建自我測試) DFT(可測試性設計) IDDQ測試
利用將電路中的正反器串成鏈狀所形成的掃描鏈，設定並觀測內部狀態以進行測試的方法。
日文名稱: スキャンテスト
這個名詞所屬的領域: 測試與檢查
固定型故障 故障涵蓋率 探針卡 晶圓測試(探針測試) 預燒測試(Burn-in) ATE(自動測試設備) ATPG(自動測試向量產生) BIST(內建自我測試) DFT(可測試性設計) IDDQ測試