2.5D與3D封裝的差異:晶片整合方式比較
兩者都是將多顆晶片放入一個封裝,以實現印刷電路板無法達到的頻寬的方法。2.5D封裝,是將晶片並排放在矽中介層上,由中介層以細間距佈線。3D封裝,是將晶片垂直堆疊,以矽穿孔(TSV)或混合接合連接。3D的連接最短,但散熱與製造都更困難。
| 項目 | 2.5D | 3D |
|---|---|---|
| 結構 | 將晶片並排放在矽中介層(或矽橋接)上 | 將晶片垂直堆疊 |
| 連接 | 以微凸塊連接到中介層,由其中非常細的佈線層相連 | 貫穿晶片的TSV,以微凸塊或混合接合連接 |
| 頻寬密度 | 高 | 最高。因為連接最短 |
| 熱 | 容易散熱。每顆晶片都能從上方冷卻 | 難以散熱。下層晶片的熱必須通過上層晶片 |
| 佔用面積 | 大。中介層上要放所有晶片 | 小 |
| 製造難度 | 需要大型中介層,成本增加 | 需要將晶圓薄化到數十微米、製作TSV,並仔細測試每顆晶片 |
| 代表範例 | 同一封裝中搭載HBM的AI用GPU(TSMC的CoWoS等) | HBM本身(堆疊的DRAM晶片)、堆疊在處理器上的快取 |
| 主要用途 | 處理器、記憶體、小晶片的連接 | 記憶體的堆疊,或需要最短路徑的邏輯與快取的堆疊 |
數值為具代表性的大致參考值,會因世代或產品而異。