先進技術(3D構裝與小晶片)

在依TSV形成時機的分類中,於形成電晶體之後、形成多層配線之前製作TSV的方式是下列何者?

  1. A先導孔(via-first)
  2. B中導孔(via-middle)
  3. C後導孔(via-last)
查看答案與解析

正確答案:B. 中導孔(via-middle)

TSV依形成時機分為:在電晶體之前製作的先導孔、在電晶體形成之後且多層配線之前製作的中導孔,以及在配線形成後或晶圓薄化後從背面製作的後導孔。中導孔既能讓銅TSV避開電晶體約1000 ℃的高溫步驟,又容易與配線連接,因此被廣泛使用。

  • A. 先導孔是在電晶體之前形成。
  • B. 正確。在電晶體與配線之間的時機形成。
  • C. 後導孔是在配線形成後或薄化後形成。
練習這個領域 前往領域頁面

先進技術(3D構裝與小晶片)的其他題目

  1. 作為連接晶片之間端子的間隔(間距)參考值,下列組合何者最為適切?
  2. 在扇出型晶圓級封裝的製造中,以樹脂封裝晶片時,因樹脂流動或硬化時的收縮而使晶片位置偏移的問題稱為什麼?
  3. 在TSV周圍設置不配置電晶體的區域(禁置區,keep-out zone)的主要理由是下列何者?
  4. 下列關於小晶片(Chiplet)的說明,何者正確?
  5. 下列關於TSV(矽穿孔)的說明,何者正確?

這個領域的比較