良率與品質管理
以三選一題型確認良率的計算、缺陷密度與晶片面積的關係、管制圖等品質管理的基本觀念。
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良率與品質管理的重點
良率是投入的產品中取得良品的比例，是大幅左右半導體工廠獲利的指標。在缺陷密度相同的情況下，晶片面積越大，含有缺陷的機率就越高，良率也會下降。
為了穩定製程，會以管制圖等統計方法（SPC）監控數據，及早發現異常並採取對策。
以三選一題型確認良率的計算、缺陷密度與晶片面積的關係、管制圖等品質管理的基本觀念。
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良率是投入的產品中取得良品的比例，是大幅左右半導體工廠獲利的指標。在缺陷密度相同的情況下，晶片面積越大，含有缺陷的機率就越高，良率也會下降。
為了穩定製程，會以管制圖等統計方法（SPC）監控數據，及早發現異常並採取對策。