在缺陷密度相同的條件下，若加大晶片面積，良率一般會如何變化？

正確答案：A. 下降

在帕松模型中，良率以Y=exp(−D×A)表示（D：缺陷密度，A：晶片面積）。當缺陷隨機落下時，面積越大，晶片含有1個以上缺陷的機率就越高，因此良率會呈指數函數下降。這也是將大晶片拆分為多個小晶片的小晶片（Chiplet）技術受到關注的原因之一，因為小晶片可以只挑選良品來組合。