關於以機器學習等分析工廠累積的大量設備資料、量測資料與測試結果，以提升良率的做法，下列說明何者正確？

正確答案：C. 從眾多變數的關係中，找出人不易發現的不良原因或徵兆，用於改善與預測

在半導體工廠中，每片晶圓都會記錄超過1000道製程及大量量測、測試的資料。將這些資料連結起來，以機器學習等加以分析，有時能找出牽涉多個變數的不良原因，以及異常的徵兆。不過，所找到的關係有時只是相關，因此驗證結果時，製程知識與確認實驗不可或缺。良率不會只靠資料就提升。

• A. 並不是只要蒐集資料，良率就會提升。
• B. 測試仍然是必要的。
• C. 正確。用於發現不良原因與徵兆。