將測試時雖在規格內，卻顯示出與同批次分配大幅偏離之值的晶片視為不良而剔除的手法是下列何者？

正確答案：B. PAT（零件平均測試）

PAT（Part Average Testing）是求出各批次或各晶圓的量測值分配，即使在規格內，也剔除偏離平均例如超過±6σ的離群值晶片的手法。這是因為離群值的晶片帶有潛在缺陷，將來很可能發生故障。它用於提升車用半導體的品質，也已訂定於AEC（車用電子協會）的指引中。ATPG是測試圖案產生，APC則是製程控制。