信頼性
pMOSトランジスタに負のゲート電圧と高温が加わり続けると、しきい値電圧の絶対値が徐々に増加していく劣化現象はどれか。
- ANBTI
- Bエレクトロマイグレーション
- CESD
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正解：A. NBTI
NBTI(Negative Bias Temperature Instability)は、pMOSに負のゲートバイアスと高温が加わることで、界面準位や絶縁膜中の電荷が増え、しきい値電圧の絶対値が大きくなる劣化です。回路の動作速度が徐々に遅くなるため、設計時に劣化分の余裕を見込んでおきます。