半導體晶片是怎麼做出來的?看懂前段、後段製程全貌

約 10 分鐘 · 更新:2026年10月23日

半導體晶片,是在用石頭中取出的矽所做成的圓形薄板(晶圓)上製作的。重複「鍍膜、用光轉印圖案、削去」數十次,同時做出數百顆晶片(前段製程)。最後一顆顆切開,包覆並接上對外的連接,經過測試就完成了(後段製程)。

這篇文章可以了解

  • 從石頭到晶圓的流程
  • 前段製程的基本:鍍膜、用光轉印圖案、削去
  • 類似的步驟要重複數十次的原因
  • 無塵室為什麼怕灰塵
  • 後段製程(測試、切割、封裝),以及需要的時間、由誰製造

先備知識:不需要。如果知道晶片的內容是「稱為電晶體的開關,以及連接它們的導線」,會比較容易閱讀。

生活周遭

手機和電腦裡,裝著好幾個負責運算或記憶的黑色小零件。它們的內容,是在小小的矽片上做出電路的「晶片」。負責手機運算的晶片裡,有數十億個稱為電晶體的小開關。詳細說明請見「電晶體是什麼?」。

這麼小的東西,不可能一個一個組裝。因此,要在一片板子上一次做出許多晶片,最後再切開。

整體流程:3個階段

晶片從無到有,大致可分成3個階段。首先,用材料矽做出稱為晶圓的圓形板子。接著,在晶圓上做出電晶體和導線。這個階段稱為「前段製程」。

最後,把晶圓切成一顆顆晶片,做成零件的形狀並加以測試。這個階段稱為「後段製程」。兩者的差異,也可以在比較頁「半導體前段製程與後段製程的差異」的表格中確認。

半導體晶片的製造流程:製作晶圓、前段製程、後段製程 ① 製作晶圓 矽石 多晶矽 晶棒 晶圓 ② 前段製程 鍍膜、轉印、削去等 重複數十次 ③ 後段製程 晶圓測試 晶圓切割 封裝 最終測試 出貨
製作晶圓的階段、前段製程、後段製程的流程。圖中的詞語,後文會依序說明。省略的部分:途中的檢查與清洗、研磨晶圓背面的作業、前段製程中細部的順序。

從石頭到晶圓

矽是從沙子和岩石裡大量含有的二氧化矽(矽與氧結合而成的物質)中取出的。不過,並不是直接使用海邊的沙子。而是把純度高的矽石(石英岩),和碳一起放進電爐加熱到高溫,去除其中的氧。這樣得到的矽,純度還只有98%左右。

接著,先把它轉成液體的化合物來去除雜質,再變回固體的矽(西門子法)。得到的是由許多小晶粒聚集而成的「多晶矽」。純度會提高到 99.999999999% 左右,也就是連續11個9。為什麼需要這樣的純度,在「半導體是什麼?」中有說明。

晶片需要整體原子排列都一致的「單晶」。因此,要把多晶矽放進耐熱的石英容器,在 1,400 °C 多的溫度下熔化。再把一小塊單晶(晶種)浸進去,一邊旋轉一邊慢慢往上拉。晶體會保持和晶種相同的排列,長得又粗又長。這種成長方法稱為CZ 法。

因為是一邊旋轉一邊拉起,長成的晶體塊會是圓柱形。這個晶體塊稱為晶棒。晶圓之所以是圓形,是因為它是把這個圓柱切成一片片做成的。

晶棒要用細鋼線的切割機,切成厚度不到 1 mm 的圓板。把表面研磨到像鏡子一樣平,晶圓就完成了。量產使用的最大晶圓,直徑是 300 mm。

前段製程:轉印圖案,再削去

在前段製程中,會在一片晶圓上,像棋盤格一樣排列做出數百顆相同的晶片。幾乎所有作業,都以一整片晶圓為單位一次進行。不是一顆顆加工晶片,所以能用相同的品質做出大量晶片。

最基本的,是在膜上刻出電路圖案的一連串作業。依照圖中①~⑥的順序進行。

  1. 鍍膜(成膜):在晶圓整個表面鍍上極薄的膜,例如不導電的膜,或是成為導線的金屬膜。
  2. 塗上光阻:在膜上薄薄塗一層照到光就會改變性質的藥劑。
  3. 照光(曝光):透過畫有電路圖案的原版照光,讓光阻依圖案的形狀起變化。
  4. 顯影:用藥液溶掉照到光的部分的光阻(也有沒照到光的部分會溶掉的種類)。
  5. 蝕刻:用氣體或藥液,削去沒有被光阻蓋住部分的膜。
  6. 去除光阻:去掉完成任務的光阻,膜上就留下電路的圖案。
用微影與蝕刻在膜上轉印圖案的6個階段 ① 鍍膜 ② 塗上光阻 ③ 照光 ④ 顯影 ⑤ 蝕刻 ⑥ 去除光阻 光阻 膜 矽 光罩 ⑥之後,再從①重複
在膜上轉印圖案並削去的一輪流程(剖面示意)。③的光罩是畫有電路圖案的原版,③中顏色改變的部分,是照到光的光阻。這裡以照到光的部分會在顯影時溶掉的光阻為例。省略的部分:尺寸的比例、加熱光阻的步驟、清洗。

②中塗上、性質會因光而改變的藥劑,稱為光阻。光阻有兩種:照到光的部分會溶掉的,以及照到光的部分會留下的。

③中使用的原版,稱為光罩。它是在玻璃板上,用遮光的膜畫出電路的圖案。曝光設備會用透鏡或反射鏡,把這個圖案縮小轉印到晶圓上。一次只能轉印晶圓的一部分,所以要一點點移動晶圓,把相同的圖案印滿整個表面。

像②~④這樣,用光把圖案轉印到光阻上的整套作業,稱為微影(lithography)。這原本是一種用石版印刷的技術名稱。微影能轉印的圖案有多細,大大決定了晶片能做得多細。

前段製程的其他作業

除了轉印圖案、削去之外,前段製程還有幾項重要的作業。這裡列出代表性的3項。

  • 打入雜質:把決定半導體性質的元素(雜質),用電的力量加速,打進晶圓裡。這項作業稱為離子佈植。被光阻蓋住的部分打不進去,所以能只改變指定位置的導電程度。
  • 磨平:疊上好幾層之後,表面會出現凹凸。凹凸留著的話,下一次曝光時,就會有對不到焦的地方。因此,要用藥液和研磨墊把表面磨平。這項作業稱為CMP(化學機械研磨)。
  • 清洗:即使是很小的灰塵或極微量的金屬汙染,也會造成電路不良。所以在許多作業的前後,都要清洗晶圓。清洗是前段製程中次數特別多的作業。

此外,還會在途中量測膜的厚度和圖案的尺寸,並檢查有沒有刮傷或灰塵。越早發現問題,越能減少浪費掉的晶圓。

為什麼要重複數十次

晶片並不是由一層圖案構成的,而是由下往上疊了許多層的立體結構。每一層的形狀都不同,所以每一層都要用不同的光罩,重複前面的作業。

完成晶片的剖面:下方是電晶體,上方是好幾層導線 ② 導線層 越上層越粗 ① 電晶體 矽 完成晶片的剖面
把完成的晶片縱向切開的剖面示意圖。下方是電晶體,上方疊著導線層。省略的部分:比例尺,以及大部分連接上下層或電晶體的縱向導線。實際的導線層數依晶片而異,常常比圖中更多。

首先,在矽的表面做出電晶體。放入雜質的位置、施加電壓的電極、把它們隔開的膜等,光是電晶體就需要好幾片光罩。接著,把連接電晶體的導線,隔著不導電的膜疊上好幾層。這樣疊成多層的導線,稱為多層導線。

數十億個電晶體,不可能只靠平平的一層導線連接。下層用細導線,連接附近的電晶體。越往上層,導線越粗,用來連接晶片上相距很遠的位置,以及電源。上下層之間,靠像細柱子一樣的縱向導線相連。

新一層的圖案,必須和下層的圖案完全對齊。曝光設備會先讀取晶圓上的記號、對好位置,再照光。重複的次數依晶片種類而不同;曝光設備製造商 ASML 說明,轉印圖案的作業會超過100次。

無塵室:為什麼怕灰塵

前段製程是在把空氣中的微粒減到極少的房間裡進行。這種房間稱為無塵室。空氣先通過能濾掉極細微粒的過濾器,再從天花板送進來,持續把微粒往地板推走。

怕灰塵,是因為晶片的圖案非常細。nm(奈米)是 1 mm 的百萬分之一。根據 IEEE Spectrum 的文章(2020年),當時最先進晶片的細導線,以約 36 nm 的間距排列。一根頭髮(粗約 0.09 mm)的寬度內,可以排2,000條以上這樣的導線。

在這麼細的尺度下,只要落上一顆 100 nm 的微粒,就會橫跨相鄰的好幾條導線。導線會彼此接在一起或中途斷掉,這顆晶片就成了不良品。肉眼看不見的微粒,對晶片來說就像一塊大岩石。

空氣的潔淨度,有國際標準(ISO 14644-1)規定的等級。都市的室外空氣,相當於最寬鬆的 Class 9。最潔淨的 Class 1,每 1 m³ 空氣中,100 nm 以上的微粒最多只能有10個。工廠裡,越靠近晶圓經過的地方,管理越嚴格;晶圓則放進密閉的容器中搬運。

作業人員要穿覆蓋全身的專用服裝。因為人的身體和衣服,會不斷散出皮膚碎屑、纖維等微粒。這種衣服與其說是保護人,不如說是保護晶圓,不讓人散出的微粒沾上去。

後段製程:切開、包覆、測試

完成前段製程的晶圓上,排列著做好的晶片。不過,並不是每一顆都是良品。因此,要先在晶圓的狀態下,把細針接觸每顆晶片的電極,檢查電氣上能否正確運作。這項測試稱為晶圓測試,並記錄不良晶片的位置。

接著,把晶圓背面磨薄,再用旋轉的刀片等切成一顆顆晶片。這項作業稱為晶圓切割。切開的晶片,會固定在用來對外連接的底座(基板或金屬框架)上。

晶片的電極和底座,主要用兩種方法連接。一種是用比頭髮還細的金線或銅線,一條條連接的打線接合。另一種是把晶片翻過來,用電極上的小金屬球直接連接,稱為覆晶。兩者的差異,可在「打線接合與覆晶的差異」中比較。

把連接好的晶片用樹脂等包覆保護,並整理好對外連接的端子,就成了零件的形狀。包含這個外殼在內的整體,稱為封裝。封裝還負責保護晶片不受濕氣和衝擊影響,並把熱散出去。

最後,再把完成的零件測試一次。這稱為最終測試(final test)。要確認包覆時沒有損壞,以及在規定的溫度和電壓下能發揮性能,只出貨合格的產品。兩種測試的差異,整理在「晶圓測試與最終測試的差異」。

需要多少時間?

根據美國半導體產業協會(SIA)2021年的說明,前段製程平均約需12週。先進的晶片,有時需要14~20週。後段製程的組裝與測試,還要再花大約6週。

前段製程很花時間,是因為正如前面所見,類似的作業要依層數重複。不是一台設備就能完成,晶圓要在許多設備之間來回好幾次。因此,即使訂單突然增加,也沒辦法馬上增加出貨。

良率:不會全部都是良品

不管管理得多好,晶圓上仍會以一定比例出現不良的晶片。做出的晶片中良品所占的比例,稱為良率,大大影響一顆晶片的價格。假設小缺陷隨機散布,晶片越大越容易碰到缺陷,良率就越低。

例如直徑 300 mm 的晶圓,可以切出約600顆 10 mm 見方的晶片。若缺陷是每 1 cm² 0.1個,良品約九成。改成 20 mm 見方,能切出的數量約150顆,良品會減到約三分之二(依本站計算工具的概算)。可以用晶粒良率計算器,改變晶片大小試試看。

由誰製造?

到目前為止的流程,很少由一家公司全部包辦。整個產業是由各階段擅長的公司分工負責。下表由左至右,依序是「做什麼的公司」「業界的稱呼」「公司的例子」。

做什麼的公司稱呼例子
製作晶圓晶圓製造商信越化學工業、SUMCO
製造工廠使用的設備或材料設備製造商、材料製造商ASML、東京威力科創
只設計晶片,製造交給其他公司無晶圓廠(Fabless)NVIDIA、高通
承接其他公司所設計晶片的前段製程晶圓代工台積電(TSMC)
承接後段製程(組裝與測試)OSAT日月光(ASE)、Amkor
從設計到製造都自己做IDM英特爾(Intel)

不需要記住所有的稱呼。新聞中特別常出現的,是承接製造的晶圓代工廠。各自的差異,可在「IDM、無晶圓廠、晶圓代工的差異」中比較。

常見的誤解

誤解:機器把矽一顆一顆削出來,做成晶片

實際上,是在一片晶圓上同時做出數百顆晶片。圖案用光轉印,鍍膜、削去、打入雜質等作業,都對整片晶圓一次進行。不只是削去,把膜堆積上去的作業也同樣重要。這個誤解,容易來自切削金屬零件的印象。

誤解:無塵室是為了人而保持衛生的房間

實際上,它是保護晶圓不受微粒和汙染影響的房間。人是散出微粒的一大來源,所以要用覆蓋全身的衣服,把人散出的微粒關在裡面。這個誤解,來自醫院手術室那種「清潔」的印象。保護人不受危險藥品和氣體傷害的對策,則是另外進行的。

誤解:只要「印刷」一次電路,晶片就完成了

實際上,每一層都要用不同的光罩轉印圖案,並重複數十次鍍膜和削去的作業。新的一層,必須和下層精準對齊再疊上去。這個誤解,容易來自微影的語源是「印刷」,以及「把電路燒印上去」這類說法。

用數字來看

數字代表什麼
300 mm量產使用的最大晶圓直徑
約600顆300 mm 晶圓可切出的 10 mm 見方晶片數(依本站計算工具的概算)
100次以上做出一顆晶片前,轉印圖案的作業重複的次數(ASML 的說明)
約12週前段製程平均所需的時間。先進晶片為14~20週(SIA,2021年)
約 36 nm2020年左右最先進的晶片中,細導線排列的間距(IEEE Spectrum,2020年)
最多10個ISO 14644-1 的 Class 1 中,每 1 m³ 空氣容許的 100 nm 以上微粒數

把數字排在一起,就能看出前段製程有多難。間距約是頭髮兩千分之一的圖案,要每層對準位置,疊上數十次。這段期間,數百顆晶片的任何地方,都不能落上一顆微粒。

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這個領域的題目: 微影

參考資料

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