持續進行晶圓測試後，焊墊的鋁屑等會附著在探針的針尖上。此時定期進行的處理為下列何者？

正確答案：A. 以研磨片等清潔針尖

若針尖附著鋁屑或氧化物，接觸電阻會上升而無法正確量測，成為將良品誤判為不良的原因。因此每量測一定數量的晶片，就以研磨片等摩擦針尖加以清潔，使接觸穩定。摩擦過度會使針磨損變短，因此也要管理清潔的頻率。塗油或折彎會使接觸不良惡化。

• A. 正確。定期清潔針尖。
• B. 塗油會造成接觸不良或污染。
• C. 將針折彎會導致無法正確接觸。