信頼性

ESD(静電気放電)の耐性を評価する試験モデルで、「帯電した人がICの端子に触れたときの放電」と「IC自体が帯電していて端子が金属に触れたときの放電」の呼び方の組み合わせとして正しいものはどれか。

  1. A人体モデル(HBM)とデバイス帯電モデル(CDM)
  2. BTDDBとNBTI
  3. CHTOLとHAST
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正解:A. 人体モデル(HBM)とデバイス帯電モデル(CDM)

人体モデル(Human Body Model)は帯電した人体からの放電を、デバイス帯電モデル(Charged Device Model)は製造や搬送の途中で帯電したIC自体が放電する場合を模擬します。CDMは非常に速い放電で、自動化された製造工程での破壊の主な原因になるため重視されています。

  • A. 正しい。人体からの放電と、IC自体の帯電による放電のモデルです。
  • B. TDDBとNBTIは絶縁膜やトランジスタの経時劣化です。
  • C. HTOLとHASTは高温動作試験と高温高湿の加速試験です。
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