NBTI란?
えぬびーてぃーあい
pMOSのゲートに負の電圧をかけた状態で温度が高いと、しきい値電圧の絶対値が徐々に大きくなる劣化現象。
일본어 명칭: NBTI
분야: 신뢰성
えぬびーてぃーあい
pMOSのゲートに負の電圧をかけた状態で温度が高いと、しきい値電圧の絶対値が徐々に大きくなる劣化現象。
일본어 명칭: NBTI
분야: 신뢰성
ESD(静電気放電) FIT MTTF(平均故障時間) TDDB(経時絶縁破壊) アレニウスモデル エレクトロマイグレーション ソフトエラー バスタブ曲線 ホットキャリア注入(HCI) ラッチアップ