可靠度
在評估ESD（靜電放電）耐受性的試驗模型中，「帶電的人觸碰IC端子時的放電」與「IC本身帶電而端子接觸金屬時的放電」，其名稱的組合下列何者正確？
- A人體放電模型（HBM）與元件充電模型（CDM）
- BTDDB與NBTI
- CHTOL與HAST
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正確答案：A. 人體放電模型（HBM）與元件充電模型（CDM）
人體放電模型（HBM）以100 pF的電容與1.5 kΩ的電阻模擬帶電人體的放電，元件充電模型（CDM）則模擬在製造或搬運過程中帶電的IC本身接觸金屬而放電的情形。CDM是1 ns左右以下的非常快速的放電，是人員不接觸的自動化製程中造成破壞的主要原因，因此受到重視。TDDB、NBTI是經時劣化，HTOL、HAST則是壽命的加速試驗。
- A. 正確。分別是來自人體的放電，以及IC本身帶電所造成放電的模型。
- B. TDDB與NBTI是絕緣膜或電晶體的經時劣化。
- C. HTOL與HAST分別是高溫工作試驗與高溫高濕的加速試驗。