Wat is EOT (equivalente oxidedikte)?

Waarde die een gate-isolator zoals een high-k-laag omrekent naar de dikte van een SiO2-laag met dezelfde gatecapaciteit. Ook bij fysiek dikke lagen kan de EOT dun zijn, zodat de gatecapaciteit behouden blijft terwijl de tunnelstroom wordt onderdrukt.

Japanse benaming: EOT(等価酸化膜厚)

“EOT (equivalente oxidedikte)” komt voor in 7 oefenvragen uit 4 onderwerpen, bijv. Oxidatie en diffusie, Geavanceerde transistoren (FinFET, GAA), Halfgeleiderfysica.

Vakgebied: Geavanceerde transistoren (FinFET, GAA)

Nu oefenen: vragen over EOT (equivalente oxidedikte)

Welke uitspraak over EOT (equivalente oxidedikte) is juist?

  1. ADe waarde die ontstaat door een gate-isolator zoals een high-k-film om te rekenen naar de dikte van een SiO2-film met dezelfde gatecapaciteit
  2. BDe werkelijke fysieke laagdikte van de gate-isolator
  3. CDe dikte van de bedradingslagen
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. De waarde die ontstaat door een gate-isolator zoals een high-k-film om te rekenen naar de dikte van een SiO2-film met dezelfde gatecapaciteit

EOT is de waarde waarbij de capaciteit van de gate-isolator wordt omgerekend naar de dikte van de film als die met SiO2 (relatieve diëlektrische constante 3,9) zou zijn gerealiseerd: EOT = fysieke laagdikte × 3,9/ε. Een high-k-film met relatieve diëlektrische constante 20 heeft bij een fysieke laagdikte van circa 5 nm een EOT van 1 nm. De EOT van geavanceerde producten is inclusief de grenslaag circa 0,8 tot 1 nm. Omdat bij de werkelijke elektrische dikte ook kwantumeffecten van de inversielaag e.d. meetellen, is de gemeten waarde (CET) iets groter dan de EOT.

“EOT (equivalente oxidedikte)” in de toelichting

Vragen met “EOT (equivalente oxidedikte)” (7)

  1. Welke uitspraak over EOT (equivalente oxidedikte) is juist?
  2. Welke waarde ligt het dichtst bij de relatieve permittiviteit van silicium?
  3. Welk effect is juist bij een MOSFET met een zeer dunne gate-isolator wanneer de piek van de elektronenverdeling in de inversielaag iets van het grensvlak af ligt?
  4. Waarom wordt bij high-k/metal-gate-transistoren vaak een zeer dunne laag zoals SiO2 tussen het silicium en de high-k-film (zoals een oxidefilm op hafniumbasis) geplaatst?
  5. Wat is het belangrijkste doel van het inbrengen van stikstof in gate-oxide om oxynitride (SiON) te maken?
  6. Welke waarde ligt het dichtst bij de relatieve permittiviteit van met thermische oxidatie gevormde SiO2?
  7. Hoe heet de behandeling waarbij met plasma gegenereerde stikstof in het oppervlak van een dunne gate-oxidefilm wordt ingebracht?

Verwante termen

Oxynitride (SiON) Inversielaag Mobiliteit Uitputtingslaag (depletion layer) Junctiecapaciteit (depletiecapaciteit) Drempelspanning (threshold voltage) Thermische oxidatie Plasma CFET (complementaire FET) DTCO (design-technology co-optimization)

Naar de woordenlijst