EUV 與 DUV 曝光的差異:波長、光學系統、成本比較
微影(曝光)是以光將電路圖案轉印到晶圓上的製程。DUV(深紫外線)曝光使用 ArF 雷射的 193 nm 光,並藉由透鏡,以及透鏡與晶圓之間的水(浸潤)進行轉印。EUV(極紫外線)曝光使用 13.5 nm 的光,因此一次曝光就能轉印細得多的圖案。不過,這種光會被大多數物質吸收,所以整部裝置必須只用真空中的反射鏡來構成。EUV 要昂貴且複雜得多。
| 項目 | DUV(ArF 浸潤式) | EUV |
|---|---|---|
| 波長 | 193 nm | 13.5 nm |
| 光源 | ArF 準分子雷射 | 雷射產生電漿。以雷射照射熔融錫的微小液滴 |
| 光學系統 | 透鏡(折射)。浸潤式在最後一片透鏡與晶圓之間注入水 | 只用反射鏡(多層膜反射)。因為大多數材料都會吸收 EUV 光 |
| 光罩 | 以石英製成的穿透式光罩 | 附有多層膜的反射式光罩 |
| 環境 | 空氣或氮氣,以及浸潤用的水 | 真空 |
| 解析度 | 一次曝光最細到節距約 80 nm。更細的圖案需要多重曝光 | 一次曝光即可轉印節距 30 nm 左右以下。High-NA EUV 則更細 |
| 製程的複雜度 | 多重曝光(SADP、SAQP 等)使製程步驟增加 | 最細的層製程步驟減少,但光阻與光罩有新的課題 |
| 主要缺陷 | 疊對誤差,以及多重曝光造成的缺陷 | 光子數少所造成的隨機性缺陷,以及光罩的缺陷 |
| 設備價格 | 每台數千萬美元 | 每台遠超過 1 億美元 |
| 供應商 | ASML、Nikon 等 | 實質上只有 ASML |
| 主要的使用方式 | 包含先進晶片在內,大部分晶片的大部分層 | 7 nm 世代以後,最關鍵且最細微的層 |
數值為具代表性的大致參考值,會因世代或產品而異。