EUV와 DUV 리소그래피의 차이는 무엇일까
리소그래피는 빛으로 웨이퍼에 회로 패턴을 새기는 공정입니다. DUV(심자외선) 리소그래피는 ArF 레이저의 193 nm 빛을 사용하며, 렌즈와 함께 렌즈와 웨이퍼 사이에 물층을 두는 액침 방식을 씁니다. EUV(극자외선) 리소그래피는 13.5 nm 빛을 사용하므로 한 번의 노광으로 훨씬 미세한 패턴을 새길 수 있지만, 이 빛은 거의 모든 물질에 흡수되기 때문에 시스템 전체를 진공 속의 거울로 구성해야 합니다. EUV는 훨씬 비싸고 복잡합니다.
| 비교 항목 | DUV(ArF 액침) | EUV |
|---|---|---|
| 파장 | 193 nm | 13.5 nm |
| 광원 | ArF 엑시머 레이저 | 레이저 생성 플라즈마: 레이저가 녹은 주석의 미세한 방울을 때립니다 |
| 광학계 | 렌즈(굴절식)이며, 액침 시스템에서는 마지막 렌즈와 웨이퍼 사이에 물이 있습니다 | 거울(반사형 다층막)만 사용합니다. 거의 모든 물질이 EUV 빛을 흡수하기 때문입니다 |
| 포토마스크 | 석영으로 만든 투과형 마스크 | 다층막 코팅이 된 반사형 마스크 |
| 환경 | 공기 또는 질소와 액침용 물 | 진공 |
| 해상도 | 한 번의 노광으로 피치 약 80 nm까지 해상합니다. 더 미세한 패턴은 멀티 패터닝이 필요합니다 | 한 번의 노광으로 피치 약 30 nm 이하를 새길 수 있으며, High-NA EUV는 더 나아갑니다 |
| 공정 복잡도 | 멀티 패터닝(SADP, SAQP 등)으로 공정 단계 수가 크게 늘어납니다 | 가장 미세한 층의 단계 수는 줄지만, 레지스트와 마스크에서 새로운 과제가 생깁니다 |
| 주요 결함 | 오버레이 오차와 멀티 패터닝에서 오는 결함 | 광자 수가 적어서 생기는 확률적 결함과 마스크 결함 |
| 장비 가격 | 장비 한 대에 수천만 달러 | 장비 한 대에 1억 달러를 훌쩍 넘습니다 |
| 공급 업체 | ASML, 니콘 등 | 사실상 ASML이 유일한 공급 업체입니다 |
| 대표 용도 | 첨단 칩을 포함한 대부분 칩의 대부분의 층 | 대략 7 nm급 이하의 가장 중요하고 미세한 층 |
수치는 대략적인 자릿수 기준이며, 공정 세대와 제품에 따라 달라져요.