Wat is EDX (energiedispersieve röntgenspectroscopie)?

Analysemethode die de energie van de karakteristieke röntgenstraling meet die een monster uitzendt bij bestraling met elektronen, om de soorten en hoeveelheden elementen te bepalen. Wordt gecombineerd met SEM of TEM.

Japanse benaming: EDX(エネルギー分散型X線分光)

“EDX (energiedispersieve röntgenspectroscopie)” komt voor in 5 oefenvragen uit 1 onderwerpen, bijv. Metrologie en analyse.

Vakgebied: Metrologie en analyse

Nu oefenen: vragen over EDX (energiedispersieve röntgenspectroscopie)

Wat is te weten te komen met EDX (energiedispersieve röntgenspectroscopie), dat samen met SEM of TEM wordt gebruikt?

  1. AOppervlakteruwheid
  2. BSoort en hoeveelheid van de in het monster aanwezige elementen
  3. CInterne filmspanning
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Soort en hoeveelheid van de in het monster aanwezige elementen

Wanneer een elektronenbundel op het monster valt, worden elektronen uit binnenste schillen geslagen en wanneer daar een elektron uit een buitenste schil in valt, komt karakteristieke röntgenstraling vrij met een voor elk element eigen energie. EDX analyseert die energie en bepaalt zo soort en hoeveelheid van de elementen. Omdat de samenstelling ter plaatse bekend wordt van de plek die met de elektronenmicroscoop wordt bekeken, wordt het veel gebruikt voor de analyse van deeltjes en defecte plekken. De detectiegrens is ongeveer 0,1 gew.%; voor de analyse van sporen van onzuiverheden worden onder meer SIMS gebruikt.

“EDX (energiedispersieve röntgenspectroscopie)” in de toelichting

Vragen met “EDX (energiedispersieve röntgenspectroscopie)” (5)

  1. Wat is te weten te komen met EDX (energiedispersieve röntgenspectroscopie), dat samen met SEM of TEM wordt gebruikt?
  2. Welke uitspraak over SIMS (secundaire-ionen-massaspectrometrie) is juist?
  3. Welke methode wordt juist gebruikt om kromming (bow en warp) en vlakheid van wafers te meten?
  4. SIMS meet de concentratie van onzuiverheidsatomen. Welke methode meet daarentegen de diepteverdeling van de elektrisch actieve dragerconcentratie?
  5. Welke methode wordt gebruikt om de concentratie interstitieel zuurstof in silicium te meten?

Verwante termen

SIMS (secundaire-ionenmassaspectrometrie) SEM (scanning-elektronenmicroscoop) TEM (transmissie-elektronenmicroscoop) Ionenimplantatie Scherptediepte (DOF) Numerieke apertuur (NA) AFM (atomic force microscope) Informatieverlies (absorptie) Gettering CD-SEM

Naar de woordenlijst