Qu'est-ce que EDX (spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie) ?

Méthode d'analyse qui mesure l'énergie des rayons X caractéristiques émis par l'échantillon sous un faisceau d'électrons pour identifier et quantifier les éléments présents. Utilisée avec un MEB ou un TEM.

Nom japonais: EDX(エネルギー分散型X線分光)

« EDX (spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie) » apparaît dans 5 questions d'entraînement réparties sur 1 thèmes, dont Métrologie et analyse.

Domaine: Métrologie et analyse

S'entraîner : questions sur EDX (spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie)

Que permet de connaître l’EDX (spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie), utilisée en combinaison avec un SEM ou un TEM ?

  1. ALa rugosité de surface
  2. BLa nature et la quantité des éléments contenus dans l’échantillon
  3. CLa contrainte interne d’un film
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Réponse : B. La nature et la quantité des éléments contenus dans l’échantillon

Lorsqu’un faisceau d’électrons frappe l’échantillon, des électrons des couches internes sont éjectés ; quand des électrons externes comblent ces lacunes, ils émettent des rayons X caractéristiques d’énergie propre à chaque élément. L’EDX analyse cette énergie pour déterminer la nature et la quantité des éléments. La composition de la zone observée au microscope électronique est obtenue sur place, d’où son large usage pour analyser particules et zones défectueuses. La limite de détection est d’environ 0.1 wt% ; pour les impuretés à l’état de traces, on utilise notamment la SIMS.

« EDX (spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie) » dans les explications

Questions mentionnant « EDX (spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie) » (5)

  1. Que permet de connaître l’EDX (spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie), utilisée en combinaison avec un SEM ou un TEM ?
  2. Quelle description de la SIMS (spectrométrie de masse des ions secondaires) est correcte ?
  3. Quelle méthode est utilisée pour mesurer la courbure (bow, warp) et la planéité des plaquettes ?
  4. Alors que la SIMS mesure la concentration d’atomes d’impuretés, quelle méthode mesure le profil en profondeur de la concentration de porteurs électriquement actifs ?
  5. Quelle méthode est utilisée pour mesurer la concentration d’oxygène interstitiel dans le silicium ?

Termes associés

SIMS (spectrométrie de masse des ions secondaires) TEM (microscope électronique en transmission) Implantation ionique Contact Profondeur de champ (DOF) AFM (microscope à force atomique) Absorption (perte de chiffres) Getter (gettering) Méthode des quatre pointes CD-SEM

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