Metrologie en analyse

Wat is te weten te komen met EDX (energiedispersieve röntgenspectroscopie), dat samen met SEM of TEM wordt gebruikt?

  1. AOppervlakteruwheid
  2. BSoort en hoeveelheid van de in het monster aanwezige elementen
  3. CInterne filmspanning
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Soort en hoeveelheid van de in het monster aanwezige elementen

Wanneer een elektronenbundel op het monster valt, worden elektronen uit binnenste schillen geslagen en wanneer daar een elektron uit een buitenste schil in valt, komt karakteristieke röntgenstraling vrij met een voor elk element eigen energie. EDX analyseert die energie en bepaalt zo soort en hoeveelheid van de elementen. Omdat de samenstelling ter plaatse bekend wordt van de plek die met de elektronenmicroscoop wordt bekeken, wordt het veel gebruikt voor de analyse van deeltjes en defecte plekken. De detectiegrens is ongeveer 0,1 gew.%; voor de analyse van sporen van onzuiverheden worden onder meer SIMS gebruikt.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Metrologie en analyse

  1. Welke methode wordt veel gebruikt voor de analyse van sporen van metaalverontreiniging op het waferoppervlak?
  2. Wat kan worden beoordeeld met C-V-metingen (capaciteit-spanning) van een MOS-condensator?
  3. Hoe heet de metrologie waarbij licht op een periodiek patroon valt en het spectrum van gereflecteerd en gediffracteerd licht met een model wordt vergeleken om lijnbreedte en doorsnedevorm te bepalen?
  4. Wat kan hoofdzakelijk worden beoordeeld met röntgendiffractie (XRD)?
  5. Wat is het belangrijkste gebruik van een apparaat met gefocusseerde ionenbundel (FIB)?

Vergelijkingen bij dit onderwerp