スキャンテストとBISTの違い：パターンの作り方・テスター・対象・追加回路・用途を比較

どんなときに使うか

スキャンテスト

量産のテストで、ロジックの構造上の故障を高い検出率で見つけたいとき。不良になったチップの故障の場所を絞り込みたいとき。

BIST

外部から直接アクセスしにくい内蔵メモリのテスト。テスターの端子やメモリを減らしたいとき。車載などで、出荷後に電源投入時や走行前の自己診断が必要なとき。

組み合わせ

実際のチップでは、ロジックにスキャンテスト(テスト圧縮つき)、メモリにメモリBISTを使うのが一般的です。ロジックBISTもスキャンチェーンを土台にして動きます。

理解度チェック

1. テストパターンの故障検出率(フォールトカバレッジ)の定義として正しいものはどれか。
2. スキャンテストのデータ量とテスト時間を減らすため、チップ内でテストパターンを展開し、応答を圧縮する技術を何と呼ぶか。
3. 車載マイコンで、電源を入れたときや走行の前などに、ロジックBISTやメモリBISTを実行する機能安全上の主な目的はどれか。

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関連する用語の解説

スキャンテスト

回路の中のフリップフロップを鎖状につないだスキャンチェーンを使い、内部の状態を設定・観測してテストする方法。

BIST(組み込み自己テスト)

テスト用の回路をチップ内に組み込み、チップ自身でテストパターンの生成と結果の判定を行う仕組み。メモリのテストなどで広く使われる。

ATPG(自動テストパターン生成)

回路のネットリストから、故障を検出するためのテストパターンを自動で生成すること。スキャン設計と組み合わせて使う。

故障検出率(フォールトカバレッジ)

想定した故障のうち、そのテストパターンで検出できる故障の割合。高いほど不良品を見逃しにくい。

DFT(テスト容易化設計)

スキャンチェーンやBISTなど、テストしやすくする仕組みをあらかじめ回路に組み込む設計手法。

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