BIST(組み込み自己テスト)の説明として正しいものはどれか。

正解：B. テスト用の回路をチップ内に組み込み、チップ自身でテストを行う

BISTは、テストパターンの生成回路や結果の判定回路をチップに内蔵し、チップ自身でテストを実行する仕組みです。特に大容量のメモリのテストで広く使われ、高価な外部テスタへの依存やテスト時間を減らせます。