スキャンテストのデータ量とテスト時間を減らすため、チップ内でテストパターンを展開し、応答を圧縮する技術を何と呼ぶか。

正解：A. テスト圧縮(スキャン圧縮)

大規模なLSIでは、スキャンテストのパターン量が膨大になり、テスタのメモリとテスト時間が問題になります。テスト圧縮では、少ない入力データをチップ内の回路で多数のスキャンチェーンに展開し、出力も圧縮して比較することで、データ量とテスト時間を大幅に減らします。