測試與檢查
量測CMOS電路靜止狀態時的電源電流,以偵測橋接故障等缺陷的測試稱為什麼?
- AIDDQ測試
- B功能測試
- CBurn-in(老化測試)
查看答案與解析
正確答案:A. IDDQ測試
CMOS電路在靜止狀態下,pMOS與nMOS其中之一必定為關閉,因此幾乎沒有電源電流流過。若有配線之間的短路(橋接)或閘極氧化膜的缺陷,靜止時電流會從電源流向接地,因此量測靜止時的電源電流(IDDQ)即可偵測缺陷。不過隨著微縮,漏電流變大,與正常品的區別變得困難。
測試與檢查
正確答案:A. IDDQ測試
CMOS電路在靜止狀態下,pMOS與nMOS其中之一必定為關閉,因此幾乎沒有電源電流流過。若有配線之間的短路(橋接)或閘極氧化膜的缺陷,靜止時電流會從電源流向接地,因此量測靜止時的電源電流(IDDQ)即可偵測缺陷。不過隨著微縮,漏電流變大,與正常品的區別變得困難。