IDDQテスト란?
あいでぃーでぃーきゅーてすと
CMOS回路が静止しているときの電源電流を測り、異常に大きい場合にブリッジ故障などの欠陥があると判定するテスト。
일본어 명칭: IDDQテスト
분야: 테스트와 검사
관련 용어
故障検出率(フォールトカバレッジ) 縮退故障 ATE(自動試験装置) ATPG(自動テストパターン生成) BIST(組み込み自己テスト) DFT(テスト容易化設計) KGD(ノウングッドダイ) ウエハテスト(プローブテスト) スキャンテスト バーンイン
あいでぃーでぃーきゅーてすと
CMOS回路が静止しているときの電源電流を測り、異常に大きい場合にブリッジ故障などの欠陥があると判定するテスト。
일본어 명칭: IDDQテスト
분야: 테스트와 검사
故障検出率(フォールトカバレッジ) 縮退故障 ATE(自動試験装置) ATPG(自動テストパターン生成) BIST(組み込み自己テスト) DFT(テスト容易化設計) KGD(ノウングッドダイ) ウエハテスト(プローブテスト) スキャンテスト バーンイン