微影

將導向自組裝(DSA)與EUV微影結合時,期待的效果下列何者正確?

  1. A不再需要EUV光罩
  2. B光阻靈敏度提高,因此不再需要EUV光源的輸出功率
  3. C以EUV製作的圖案作為導引,把圖案修整成規則週期,降低隨機變異造成的線寬與粗糙度變異
查看答案與解析

正確答案:C. 以EUV製作的圖案作為導引,把圖案修整成規則週期,降低隨機變異造成的線寬與粗糙度變異

EUV微影每次曝光使用的光子數少,隨機變異(stochastics)會使線寬與線邊緣粗糙度出現變異。導向自組裝(DSA)中嵌段共聚物圖樣的週期由材料決定,因此以EUV製作的圖案為導引進行自組裝,可望修整這些變異。imec與英特爾等自2020年代前半起陸續報告成果,但把缺陷降到極低是量產的課題。

  • A. 導引圖案以EUV曝光製作,仍需要光罩。
  • B. DSA並不能解決光阻靈敏度或光源功率的問題。
  • C. 正確。這是DSA的修整(rectification)用法。
練習這個領域 前往領域頁面

相關計算工具

微影的其他題目

  1. 根據解析度公式 R = k1 × λ / NA,下列何者是提升解析度(縮小R)的正確方法?
  2. EUV曝光所使用的光,其波長為下列何者?
  3. 關於正型光阻的說明,下列何者正確?
  4. 關於ArF浸潤式曝光的說明,下列何者正確?
  5. 關於雙重圖案化(多重圖案化)的說明,下列何者正確?

這個領域的比較