微影
將導向自組裝(DSA)與EUV微影結合時,期待的效果下列何者正確?
- A不再需要EUV光罩
- B光阻靈敏度提高,因此不再需要EUV光源的輸出功率
- C以EUV製作的圖案作為導引,把圖案修整成規則週期,降低隨機變異造成的線寬與粗糙度變異
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正確答案:C. 以EUV製作的圖案作為導引,把圖案修整成規則週期,降低隨機變異造成的線寬與粗糙度變異
EUV微影每次曝光使用的光子數少,隨機變異(stochastics)會使線寬與線邊緣粗糙度出現變異。導向自組裝(DSA)中嵌段共聚物圖樣的週期由材料決定,因此以EUV製作的圖案為導引進行自組裝,可望修整這些變異。imec與英特爾等自2020年代前半起陸續報告成果,但把缺陷降到極低是量產的課題。
- A. 導引圖案以EUV曝光製作,仍需要光罩。
- B. DSA並不能解決光阻靈敏度或光源功率的問題。
- C. 正確。這是DSA的修整(rectification)用法。
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