Hulpstuk waarmee tal van naalden (probes) in contact worden gebracht met de elektroden van chips op de wafer en deze elektrisch met de tester worden verbonden.
Japanse benaming: プローブカード
“Probe card” komt voor in 5 oefenvragen uit 2 onderwerpen, bijv. Testen en inspectie, Packaging en montage.
Vakgebied: Testen en inspectie
Antwoord: C. Een opspanning waarmee naalden in contact worden gebracht met de elektroden van de chips op de wafer en die de chip elektrisch met de tester verbindt
Een probe card is een productspecifieke opspanning waarin een groot aantal naalden is geplaatst volgens de indeling van de elektrodepads van de chip. De prober richt de wafer met een camera uit, tilt de chuck op zodat de naalden de pads raken, en verbindt zo de tester elektrisch met de chip. Naaldtypen zijn onder meer de cantilever-uitvoering met schuine naalden, de verticale uitvoering en de uitvoering die met MEMS-technologie wordt vervaardigd. Een afdichtingsmal of een transporthouder is iets anders.
Antwoord: B. Op de elektrodepads van de chip
Bij de wafertest worden de vele naalden van de probe card in contact gebracht met elektrodepads, die bijvoorbeeld langs de rand van elke chip zijn geplaatst; de tester legt voeding en signalen aan en meet de respons. De pads zijn elektroden die ook voor latere wirebonding of bumpverbindingen worden gebruikt en hebben afmetingen van enkele tientallen µm in het vierkant. De grootte en positie van de naaldafdruk worden ook geïnspecteerd, zodat deze de verbinding niet hindert. Transistoren liggen onder de bedradingslagen en zijn niet rechtstreeks aan te raken.
Een probe card is een productspecifieke opspanning waarin een groot aantal naalden is geplaatst volgens de indeling van de elektrodepads van de chip.
Welke beschrijving van de probe card is juist?Bij de wafertest worden de vele naalden van de probe card in contact gebracht met elektrodepads, die bijvoorbeeld langs de rand van elke chip zijn geplaatst; de tester legt voeding en signalen aan en meet de respons.
Op welke plek op de chip worden de naalden van de probe car…Een leadframe is een aansluiting en een probe card een onderdeel voor testen.
Hoe heet de metalen plaat die in de behuizing van een proce…Bij de wafertest verplaatst de prober de wafer, zodat de naalden van de probe card op de elektrodepads van de chip komen te staan en de tester de elektrische eigenschappen en de functie controleert.
Welke beschrijving van de wafertest (probetest) is juist?MEMS Wafertest (probe test) Contact Leadframe Numerieke apertuur (NA) ATE (automatic test equipment) ATPG (automatic test pattern generation) BIST (built-in self-test) Burn-in DFT (design for testability)