Ontwerpmethode waarbij voorzieningen zoals scanketens en BIST vooraf in het circuit worden opgenomen om testen te vergemakkelijken.
Japanse benaming: DFT(テスト容易化設計)
“DFT (design for testability)” komt voor in 4 oefenvragen uit 3 onderwerpen, bijv. Testen en inspectie, LSI-ontwerpflow en EDA, Milieu en veiligheid.
Vakgebied: Testen en inspectie
Antwoord: C. De flip-flops in de schakeling worden als schuifregister gekoppeld, zodat de interne toestand eenvoudig kan worden ingesteld en waargenomen
Bij scanontwerp krijgt de ingang van elke flip-flop een omschakelende selector, zodat de flip-flops tijdens de test in serie worden geschakeld (scanketen). Extern kan dan door schuiven een willekeurige waarde worden ingesteld en kan de interne waarde door schuiven worden uitgelezen. De test van een sequentiële schakeling wordt hierdoor vervangen door de test van een combinatorische schakeling, zodat ATPG automatisch patronen met een hoge foutdekking kan genereren. Aftasten met een microscoop of een spanningssweep is iets anders.
DFT, zoals scanontwerp en het invoegen van testpunten, verbetert beide, zodat fouten met weinig patronen kunnen worden gedetecteerd.
Welke combinatie van twee eigenschappen wordt met Design fo…DFT is een methode voor testbaarheid en CTS een methode voor klokdistributie.
Welke ontwerpgedachte past de layout enzovoort zo aan dat d…SPC is kwaliteitsbeheer en DFT een methode voor testbaar ontwerp.
Hoe heet de activiteit waarbij voor het begin van een werkz…Sequentiële schakeling Combinatorische schakeling ATPG (automatic test pattern generation) Foutdekking (fault coverage) Opbrengst (yield) SPC (statistische procesbeheersing) ATE (automatic test equipment) BIST (built-in self-test) Burn-in IDDQ-test