Was ist Nadelkarte (probe card)?
Vorrichtung, die viele Nadeln (Probes) auf die Chip-Elektroden auf dem Wafer drückt, um sie elektrisch mit einem Tester zu verbinden.
Japanische Bezeichnung: プローブカード
Fachgebiet: Test und Inspektion
Verwandte Begriffe
ATE (automatische Testausrüstung, automatic test equipment) ATPG (automatische Testmustererzeugung) BIST (integrierter Selbsttest) Burn-in (Voralterung) DFT (testgerechter Entwurf) Fehlerabdeckung (Fault Coverage) IDDQ-Test KGD (Known Good Die) Scan-Test (scan test) Stuck-at-Fehler